范文一:金属镀层厚度标准
名称 金属覆盖层 银和银合金电镀层试验方法
标准编号 GB 12307.1-90
摘要 第一部分:镀层厚度的测定
1主题内容与适用范围
本标准规定了电镀溶液的霍尔槽试验方法。适用于测定电镀溶液的阴极电流密度范围、分散能力及整
平等性能,亦适用于研究电镀溶液组分及工艺条件的改变对镀层质量的影响。 2术语霍尔槽:
非导电材料的梯形镀槽,其中各电极排布能够观察宽广电流密度范围内的阴极或阳极效应。
3方法原理
利用霍尔槽中阴极各部位与阳极距离不同,相应的电流密度也不相同的原理测试电镀溶液的性能及影
响镀层质量的因素。
4试验装置、仪器及设备
4.1试验装置霍尔槽试验装置如图1所示。
4.2试验仪器及设备
4.2.1霍尔槽霍尔槽是一个小型梯形电镀槽。
槽体材料一般选用耐酸、碱的绝缘材料制作。霍尔槽的主要特征是阴、阳极之间不平行,保持一定的
角度。根据盛装溶液的容积可分为250ml、500ml、1000ml三种霍尔槽,最常用的是250ml、1000ml 两种。
在实际使用中,市售的一种霍尔槽,在d边安装加热管,c边阴极旁开有一排空气搅拌孔,其使用较广泛,
还有一种改良型霍尔槽,其形状尺寸与普通霍尔槽相同,只是在槽两平行壁中的长壁钻6孔,短壁钻4孔,
孔的位置与尺寸无严格要求。该槽的优点是置于能加温(或冷却)的另一较大的装有待测镀液的容器中,
从而获得所需要的较稳定的镀液成分和液温。
4.2.2阳极阳极材料与生产中使用的相同,并符合电镀阳极的国家标准,阳极形状为平板状,在容易钝化阳
极的镀液中,可采用瓦楞状或网状,其几何厚度不能超过5mm。 4.2.3阴极阴极材料应根据试验情况选取,一般多选用0.2~1mm厚的黄铜板或钢板,选用其他材料则应对试验过程基本无影响,试片可根据试验目的进行打磨、浸蚀或抛光,然后背面涂绝缘涂料,烘干。
4.2.4电源电源应比较稳定,最好采用直流恒电流电源。
4.2.5直流电流表量程:0~10A,0.5级或1级。在实际测试中,可采用具有加热搅拌功能的成套霍尔槽试验
装置。
5试验条件的选择
5.1镀液为获取正确的试验结果,试验镀液应具有代表性,在重复试验 时,每次试验 所取镀液体积应相同。当使用不溶性阳极时,经1~2次电镀试验后应更换新液。如用可溶性阳极则应在4~5次试验后更换新液,在测试微量杂质或添加剂的影响时,每槽溶液试验 次数还应酌情减少。 5.2电流强度电流强度应根据镀液的性质选择。若镀液允许的电流强度上限较大,则试验时的电流强度应取
大一点,但通常选取0.5~3A之间,某些镀种如镀铬溶液可提高5~10A。试验 微量杂质的影响时,可用0.5~1A。
5.3试验时间霍尔槽试验的时间应根据试验目的来确定,一般多选取5~10min。 5.4试验温度霍尔槽试验温度应根据镀液性质和试验目的来确定。 6试验步骤
6.1将待测溶液倒入霍尔槽中,贴b边槽壁插入洗净的阳极板。
6.2按图1所示安装接线,并按工艺条件,将镀液恒温。
6.3将符合电镀前处理要求的阴极紧贴c边槽壁带电入槽,按镀液的工艺条件,控制电流强度和电镀时间、
进行电镀。
1
6.4断开电源,取出阴极试片洗净、烘干。根据试验目的进行结果处理。
热喷涂涂层厚度的无损测量方法 GB 11374-89
本标准规定了热喷涂涂层厚度测量的术语、测量方法的选择、基准面的确定及局部厚度的测量。适用于所
有热喷涂方法,包括火焰喷涂、电弧喷涂、等离子喷涂等所制备的各种磁性金属基体上非磁性涂层和非磁
性金属基体上非导电涂层的厚度测量及评定。
1主题内容与适用范围
1.1主题内容 本标准规定了热喷涂涂层厚度测量的术语、测量方法的选择、基准面的确定及局部厚度的
测量。
1. 2适用范围 本标准适用于所有热喷涂方法,包括火焰喷涂、电弧喷涂、等离子喷涂等所制备的各种磁
性金属基体上非磁性涂层和非磁性金属基体上非导电涂层的厚度测量及评定。 2引用标准 GB4956磁性金属基体上非磁性覆盖层厚度测量 磁性方法
GB4957非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量 涡流方法 3术语
3.1有效表面 按使用和外观要求必须喷涂的表面,包括已喷涂和待喷涂的表面。 3.2测量面 在有效表面上做单次测量的区域。对于无损法,是测头的面积或影响读数的区域。 3.3基准表面 在有效表面上对涂层厚度进行规定次数的单次测量的区域。 3.4局部厚度 在基准表面上进行规定次数测量所得涂层厚度的平均值。 3.5最小局部厚度 一个试件的有效表面上所得各局部厚度中的最小值。 3.6最大局部厚度 一个试件的有效表面上所得各局部厚度中的最大值。 2. 7平均厚度 均匀分布于有效表面上的规定次数的局部厚度值的平均值。 4测量方法的选择 根据基体材料与涂层材料是否具有磁性与导电性选择测量方法。
金属覆盖层 金和金合金电镀层的试验方法
第一部分 镀层厚度测定 GB/T12305.1-1990
1主题内容与适用范围
本标准规定了金和金合金镀层厚度的测定方法。适用于工程、装饰、防护用金和金合金电镀层厚度的
测定。
2引用标准
GB6463金属和其他无机覆盖层 厚度测量方法评述
GB4677.6金属和氧化物覆盖层厚度测量方法 截面金相法
GB4955金属覆盖层 阳极溶解库仑测量法
GB4677.8印制板镀涂覆层厚度测量方法 β反向散射法
GB l1378金属覆盖层厚度测量 轮廓尺寸测量方法
GB12305.4金属覆盖层 金和金合金电镀层的试验方法 第四部分 金含量的测定 3概述
如果需要一个仲裁的方法,经供需双方协商,可从方法4.1—4.8中选择。这个方法的选择应考虑到
预定镀层的厚度,零件形状,零件尺寸,镀层材料及基体材料等诸因素,使所选方法能够提供最可靠的测
定结果。 有些方法需要镀层的密度值,则应该用金或金合金镀层的密度值。如不知道金合金镀层的真实密
度值,可用一适当的算术计算值。例如:含6O%金与40%银的合金镀层的计算密度(g/cm3)为:14.5 在
其它情况下,可采用19.3g/cm3。 库仑仪法、x射线光谱法、β反向散射法、称量法和化学分析法都需要镀层的密度值。如果密度值是计算的或假设的,则不能达到预期的准确度。 专门镀金液的生产者一般可以估计从镀液中所获得的金镀层的密度,但由于操作条件的差别,如:电解液的老化,槽液维护不好或镀
液中混有有机杂质等都可能使镀层的密度发生变化。
2
铝及铝合金阳极氧化 阳极氧化膜厚度的定义和有关测量厚度的规定 GB8014-87
在铝及铝合金阳极氧化 膜厚的特性数据中,最小厚度值是比较重要的参数。在很多测量场合下都会涉
及到它。本标准的主要目的在于使用铝及铝合金阳极氧化膜厚度检验方法时,要确切地知道何谓“最小厚度”
这一术语的定义。规定了有关铝及铝合金阳极氧化膜厚度的术语和最小厚试的测量原则。 本标准等同于ISO2164-1980《金属镀层和其他无机涂层-定义和有关测量厚度的规定》。 1 定义
1.1 有效表面 零件表面所氧化的这部分膜层,其性能和外观都很重要。 1.2 测量面 在有效表面上作一次性测量的面。 用于下列方法时,对"测量面”作如下规定: a. 用于重量法时,去掉氧化膜的面。
b. 用于阳极溶解法时,由封闭环绝缘封闭的面。
c. 用于显微法检验时,仅供一次性测量的面。
d. 用于无损检验时,指探头区或诱导出读数的面。
1.3 考察面 在此考察面内规定作若干次一次性检验o
1.4 局部厚度 所测厚度的平均值,该值是在考察面内作若干次一次性试验所得。 1.5 最小局部厚度 局部厚度的最小值,它是在某个零件的有效表面上测垦的。 1.6 最大局部厚度 局部厚度的最小值,它是在某一零件的有效表面上测量的o 1.7平均厚度 它是指用重量法测量的厚度(参见3.1),或者是指在有效表面上均匀地测量所规定部位
局部厚度的平均值(参见3.2)。
1. 8最小厚度 指在实际测试时,其面积小到用其他方法难以测得的局部厚度的最小值。 铝及铝合金阳极氧化 膜厚度的试验方法 重量法 GB8015.1-87
本标准规定用重量法对铝及铝合金制品阳极氧化膜的厚度进行测量。适用于除铜含量大于6%以外的绝大部分铝合金。
本标准等同于ISO2106-1982《铝及铝合金阳极氧化-阳极氧化膜单位面积 上质量(表面密度)的测定-重量法》。
1方法原理 阳极氧化膜试样,首先计算其面积和称其质量,然后放入对基体无明显浸蚀作用的巳
知浓度的磷酸与三氧化铬的混合溶液中,此溶液仅能溶解氧化膜。 氧化膜溶解后,再称量试样的质量
并计算出它的重量损失。这一重量损失量即为氧化膜表面密度单位面积上的质量,通常以每单位平方
分米上的毫克数表示。 如果已知膜的精确厚度和氧化膜单价面积上的质量,便可以计算出氧化膜的近
似密度。 相反,若已知氧化膜的生成条件及其密度,通过表面密度(单位面积上的质量)的测定、可以计算出膜的平均质量,同时也可以估计出氧化膜的厚度。 本方法是一种有损检测方法。
2装置
2.1试验室天平:精度为0.1mg。
2.2烧杯。 2.3加热器。
3 溶液 磷酸———35ml,(1.7/ml)。 结晶三氧化铬——20g。 蒸馏水(或去离子水)——加至一升。
4试验步骤
3. 1预处理 待测表面的面积约在0.O8一 ldm2之间,试样的质量不宣超过lOOg。如表面较脏或被油脂及其他物质污染时,必须用合适的有机溶剂(如汽油、酒精、三氯乙烯)将脏物清洗掉。 有时可以计算试样上某—个表面的重量。当用这种方法时,另一个面上的氧化膜可以用机械方法或单面浸在化学
试剂中去除。 此外,还可以用一种保护试剂涂在试样的另一面上,以便阻止试验溶液对它的浸蚀。 一共有4页,这是第2页 到第 页
名称 铝及铝合金阳极氧化膜厚度的试验方法 分光束显微法
3
标准编号 GB8015.2-87
摘要
本标准适用于铝及铝合金制品阳极氧化膜厚度的测定。不适用于测量特殊膜(如深色氧化膜)、试样基
底粗糙的膜。在一般工业条件下,可测量10微米以上的膜。当表面平滑时也可测量5至10微米的氧化膜。 本标准等同于ISO2128-1976《铝及铝合金阳极氧化-阳极氧化膜厚度的测定-分光束显微无损测量法》。 1定义
1.1阳极氧化膜的厚度 必须在考察的区域内,至少取10点进行测量,并且计算出膜厚的算术平均值。 1.2考察区域 测量表面(或测试线段)必须经供需双方商定。另外对其表面特性应有规定。 2原理
在分光束显微镜中,一束狭长平行光线(l)倾斜地入射全氧化膜表面,通常入射角取45度。 光束的一部分在氧化膜的外表反射出来,另一部分光束穿过氧化膜并在金属/氧化膜界面上反射出来。 这样,在视区可得到两条平行亮线,两平行线间距离正比于氧化膜的厚度及放大倍数。两条平行线的间距也与氧化膜
的折射率及仪器的几何形状有关,氧化膜的折射率一般在1.59一1.62间。
金属和其他无机覆盖层关于厚度测量GB12334-90
定义和一般规则
1主题内容与适用范围
本标准规定了金属和其他无机覆盖层厚度测量的有关术语,并规定了测量覆盖层厚度所要遵循的一般
规则。 本标准适用于任何基体上的金属或其他无机覆盖层的厚度测量。 注:对于某些覆盖层,例如热浸和喷涂的金属层,可能对最小局部厚度和(或)平均厚度有一些规定,若与本标准中的 规定不一致,则应按有关产品规定。
2引用标准
GB6462金属和氧化物覆盖层 横断面厚度显微镜测量方法
3术语
本标准采用的术语及其定义如下:
3.1主要表面 significant surface 制件上某些已作或待作覆盖的表面,在该表面上覆盖层对制件的外观和(或)使用性能是重要的。
3.2基本测量面 reference surface 在主要表面上进行规定次数测量的区域。 基本测量面应是一个尽可能小的区域,但应足以能用规定的方法进行规定次数的测量。在厚度测量中,特别是在用无损测量法测量时,
为得到正确的结果,需要进行规定次数的测量以得到局部厚度 (见3.4)。 3.3单次测量面 measuring area 在基本测量面内进行单次测量的区域。
以下为采用各种测量方法时,单次测量面的定义:
a. 称量法的单次测量面即覆盖层被除去的区域。
b. 阳极溶解法的单次测量面即电解池封闭环所包围的区域。
c. 显微测量法的单次测量面即进行单次测量的部位。
d. 无损测量法的单次测量面即与测头接触的区域或影响读数的区域(见3.5的注)。
金属和其它覆盖层厚度测量方法评述 GB6463-86
本标准评述了金属或非金属基体上的金属和其它无机覆盖层厚度的测量方法。测量方法分为无损
法和破坏法两类。本标准介绍了不同方法的工作原理,允许测量误差以及某些仪器测量方法的适用范
围。标准中列出的方法,只包括国家标准中规定的一些试验方法,不包括某些特殊情况下使用的方法。
本标准可以作为选择金属 和其它无机覆盖层厚度测量 方法 的依据。本标准等效采用国际标准
ISO3882--1986《金属和其它无机覆盖层---厚度测量方法评述》。
1测量方法
1.1无损法
1.1.1磁性法
4
本方法使用的仪器有两种类型:一种是测量一磁体与基体金属之间的磁引力,该磁引力由于
覆?层的存在而受到影响。另一种是测量通过覆盖层和基体金属磁通路的磁阻。 本方法的测量误
差通常小于待测厚度的10%或1.5 μm两个数值中较大的一个数。 实际上,本方法只用于测量
磁性基体上非磁性覆盖层的厚度和磁性或非磁性基体上电镀镍层的厚度。 国家标准 GB4956—85
《磁性金属基体上非磁性覆盖层厚度测量 磁性方法》,说明了使用磁性测厚仪,无损测量磁性基
体金属上非磁性(包括釉瓷和搪瓷)覆盖层厚度的方法和要求。
1.1.2涡流法
本方法使用的仪器其工作原理是,仪器的测头装置产生了一个高频磁场,使置于测头下的导
体产 生祸流,涡流的振幅是测头和导体之间的非导电覆盖层厚度的函数。本方法主要用于测量非
磁性金属上非导电覆盖层的厚度以及非导体上单层金属覆盖层的厚度。 本方法的测量误差通常小
于待测厚度的10%或1.5μm两个数值中较大的一个数。 国家标准 GB4957—85《非磁性金属基
体上非导电覆盖层厚度测量 涡流方法》,说明了使用涡流测厚仪无损测量非磁性基体金属上非导
电覆盖层厚度的方法和要求。
1.1.3 X射线光谱测定法
本方法利用发射和吸收X射线光谱的装置确定金属覆盖层的厚度。其仪器的工作原理是,使
X射 线照射到一定面积的覆盖层表面时、覆盖层要发射二次射线,或者是由基体发射而被覆益层
减弱了的二次射线,该射线的强度可以被测量到。利用X射线的二次射线强度和覆盖层厚度之间
存在的一定关系,确定覆盖层的厚度。 X射线法在一般情况下是适用的,但在下述情况下其精度
偏低:
a. 当基体金属中存在覆盖层的成分或者覆盖层中存在基体金属成分时;
b. 覆盖层多于两层时;
c. 当覆盖层的化学成分与标定样品的成分有大的差异时。
磁性金属基体上非磁性覆盖层厚度测量磁性方法 GB4956-85 本标准规定了使用磁性测
厚仪器无损测量磁性金属基体上非磁性(包括釉瓷和搪瓷)覆盖层厚度的方法。 该方法适
用于平试样上的测量。不适用于非磁性基体上覆盖层的测量。 本标准等效采用国际标准ISO2178一1982《磁性金属基体上非磁性覆盖层厚度的磁性测量方法》。 1原理
磁性测厚仪是测量永久磁铁(测头)和基体金属之间由于存在覆盖层而引起磁引力的变化;或者是测量
通过覆盖层与基体金属磁路磁阻的变化。
2影晌测量精度的因素
2.1覆盖层厚度 测量精度随覆盖层厚度的变化而变化,并与所选用的测厚仪器的设计有关。对于薄
的覆盖层,真测量精度是一个常数,与覆盖层厚度无关;对于厚的覆盖层,其精度与覆盖层厚度近似成正
比。
2.2基体金属磁性 磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响(在实际应用中,低碳钢磁性的变化可以认
为是轻微的),为了避免热处理和冷加工因素的影响,应使用与试样基体金属具有相同性质的校准标准片对
仪器进行 校准;亦可用待镀复试样进行校准。
2.3基体金属厚度 对每—种仪器都有一个基体金属的临界厚度,这个临界厚度视不同型号的仪器而
异。若基体金属 厚度超过这一临界厚度值,测量值将不受基体金属厚度增加的影响。 临界厚度值取决于仪器的测头和 基体金属的性质。如果仪器制造厂未提供临界厚度值,则应通过试验确定o
2.4边缘效应 本方法对试样表面形状的陡变敏感,因此太靠近边缘或内转角处进行测量是不可靠的,
除非仪器对此测最进行了专门的校准。这种边缘效应大约可以延伸到离边缘15毫米处,但视仪器而定o
2.5曲率 试样的曲率对测星有影响,曲率的影响与仪器的制造和类型有关,但这种影响总是随着曲
率中径的减小而明显地增大。 如果使用双极测头仪器时,测头沿着或垂直于圆柱体轴向表面测量,可能得
到不同的读数。 因此在弯曲试样上进行测量是不可靠的,除非仪器对此测量进行了专门的校准。
5
2.6表面粗糙度 如果在粗糙表面上的同一参考面积内所测得的一系列数值明显地超过仪器固有的重
现性,则要求 测量的次数至少应增加到5次。
磁性和非磁性基体上镍电镀层厚度的测量 GB/T13744-92
本标准等效采用国际标准化组织ISO2361-1982《磁性及非磁性基体镍镀层厚度测量方法---磁性法》
1适用于磁性和非磁性基体上镍电镀层厚度的检验。不适用于自动催化(非电镀)镍镀层。
2引用标准
GB4955金属覆层厚度测量阳极溶解库仑方法
GB6462金属和氧化物覆盖层横断面厚度显微镜测量方法
3术语、定义
a. A类镀层:磁性基体镍镀层
b. B类镀层:非磁性基体镍镀层。
4原理
磁性测厚仅是通过测量永久磁铁(测头)与基体之间因存在镀层而引起的磁引力变化或通过测量镀
层与基体间的磁阻变化而反映其厚度的。
5装置
该装置是按第4章所述原理设计的专用仪器。 采用磁性原理设计的仪器对于两类镀层有着各自的
测量范围:A类镀层的最大厚度是50μm;B类镀层的最大测量厚度是25μm。 采用磁阻原理设计的仪器对于两类镀层有着基本相同的测量范围最大测量厚度为 1 mm。 6影响测量精度的因素
下列因素可能影响镀层的测量精度。
6.1镀层厚度 测量精度与仪器的设计有关并随镀层厚度而异。对于薄的镀层,其精度与镀层厚
度无关;对于厚的镀层,其精度为厚度的一个近似的固定比值。 共有4页,这是第3页 到第 页
名称 非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度测量涡流方法 标准编号 GB4957-85
摘要
本标准规定了使用涡流仪器无损测量非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度的方法。 该方法适用于
测量大多数阳极氧化覆盖层的厚度,但不适用于测量所有薄的转化膜。
本标准等效采用国际标准ISO2360一1982《非磁性金属基体上非导电覆盖层厚度的涡流测量方
法》。
1原理
涡流测厚仪的测头装置所产生的高频电磁场,使置于测头下面的导体产生涡流,其振幅和相位是
导体与测头之间的非导电覆盖层厚度的函数。
2影响测量精度的因素
2.1覆盖层厚度 该方法存在着固有的测量误差,对于薄的覆盖层,该误差是一常数,与覆盖层
厚度无关,单次测量,其绝对误差至少为0.5微米。覆盖层厚度大于25微米时,其误差与覆盖层厚度近似成正比。 若测量5微米或5微米以下的覆盖层厚度时,应取几个读数的平均值。 测量3微米
以下的覆盖层厚度,可能达不到第5章中所规定的精度要求。
2.2基体金属电性质 基体金属的电导率对测量有影响,而基体金属的电导率与其材料成分及热
处理方法有关。电导率 的影响与仪器的制造和类型有很大关系o
2.3基体金属厚度 每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度,测量就不受基体
金属厚度的影响。基 体金属临界厚度与测头装置的测量频率及基体金属电导率有关。如果仪器制造厂
未提供这个临界厚度值,则应通过实验确定。 一般,对一给定的测量频率,基体金属电导率越高,临
6
界厚度就越小;当基体金属电导率不变时,测量频率越高,临界厚度越小。
2.4边缘效应 涡流测厚仪对试样表面形状的陡变敏感。因此在靠近试样边缘或内转角处进行测
量是不可靠的,除非仪器对此作了专门的校准o
2.5曲率 试样的曲率对测量有影响。曲率的影响与仪器的制造和类型有关,但这种影响总是随
着曲率半径的减小明显地增大。因此在弯曲试样的表面上测量是不可靠的,除非仪器对此作了专门的
校准。
金属覆盖层 覆盖层厚度测量 阳极溶解库仑法 GB/T4955-1997
1范围
本标准规定了测量单层和多层金属覆盖层厚度的阳极溶解库仑法。表 l列举了典型的金属覆盖层和基体的组合。用现行的电解液(见附录B)测试其他组合,或为其他组合开发的新电解液而对其进行测
试,都必需验证对整个体系的适应性。 本方法适用于测量各种方法得到的覆盖层厚度,包括测量多层
体系,如 Cu/Ni/Cr(见8.6),以及合金覆盖层和合金化的扩散层的厚度。本方法不仅可测量平面试
样的覆盖层厚度,而且可测量圆柱形和线 材的覆盖层厚度。
2引用标准
下列标准所包含的条文,通过在本标准中引用而构成为本标准的条文。本标准出版时,所示版本
均 为有效。所有标准都会被修订,使用本标准的各方应探讨使用下列标准最新版本的可能性。
金属和氧化物覆盖层 横断面厚度显微镜测量方法 GB6462-86
本标准详细说明了运用金相显微镜对金属镀层、氧化 物覆盖层的局部厚度作横断面显微测量的方
法。本标准还可以测量釉瓷或搪瓷覆盖层的局部厚度及测量薄的厚度,及金相显微镜进行测量,其绝
对精度可达到0.8微米。本方法可作为金属 镀层、氧化层厚度测量 的仲裁方法。
本标准等效采用国际标准ISO1463-1982《金属和氧化 物覆盖层横断面厚度显微镜测量方法》。
1方法概述
从待测件上指定的位置切割一块试样,镶嵌后,对横断面进行适当的研磨、抛光和浸蚀。 用校正
过的标尺测量覆盖层横断面的厚度。
2影响测量精度的因素
2.1表面粗糙度 若覆盖层或覆盖层的基体表面是粗糙的,则与覆盖层横断面接触的—条或两条界面线也是不规则的,以致不能精确测量[见附录A (补充件)中A.4]。
2.2横断面的斜度 横断面必须垂直于待测覆盖层,若有偏差,则测得的厚度将大于真实厚度。
如垂直偏差10,则测量值比真实厚度大1.5%。
2.3覆盖层变形 镶嵌试样和制备横断面的过程中,过高的温度和压力将使软的或低熔点的覆盖
层产生变形。在制备脆性材料横断面时。过度的打磨也同样会产生变形。
2.4覆盖层边缘倒角 制备试样时,不正确的镶嵌、研磨、抛光和侵蚀都会引起覆盖层横断面的
边缘倒角,或者不平整。 采用显微镜测量则得不到真实厚度.因此在镶嵌之前,试样常耍附加镀层。
这样可使边缘倒角减至最小。
2.5附加镀层 在制备横断面时为了保护覆盖层的边缘.以避免测量误差,常应在试样上附加镀
层。附加镀层前,应注意不要损坏待测量的镀层并避免因除油、酸洗或形成合金而使镀层减薄。
2.6浸蚀 适当的浸蚀能在金属的界面线上产生暗细而清晰的界面线,过度的浸蚀会使界面线不
清晰或线条变宽,使测量产生误差。
金属覆盖层横断面厚度扫描电镜测量方法 JB/T7503-94
本标准参照采用ISO9220-1988(E)《金属覆盖层-覆盖层厚度测定-扫描电镜显微镜方法》。
本标准规定了金属覆盖层横截面厚度扫描电镜测量方法的技术要求。适用于测量横截面中微米级
到毫米级的金属覆盖层厚度。
2引用标准
GB6462金属和氧化物覆盖层横截面厚度显微镜测量方法 GB12334金属和其他无机覆盖层关于厚
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度测量的定义和一般规则
3术语
局部厚度 见GB12334。
4测定原理 从待测件上指定部位垂直于覆盖层切割块试样,经过镶嵌、研磨、抛光和浸蚀制成横
截面金相试样,利用扫描电镜对它进行测定。 在观察屏上用显微图像微标尺测定传统的显徽图像,也
可用映相放大机测定胶片(负片)或直接测定放大的相片(正片)。
5仪器
5.1扫描电子显微镜(SEM) 其分辨率等于或优于 10nm。
5.2金属标准微刻度尺 用金属标准微刻度尺校正 SEM的放大倍数,或校正显微图像微标尺,金属标准微刻度尺的放大误差小于3%。
6影响厚度测定准确度的因素
6.1表面粗糙度:见GB6462中2.1条。
6.2试样横截面的斜度:见GB6462中2.2条。
6.3试样放置斜度:试样横截面的不正确放置导致相对电子束的任何斜度都可能引起不正确的测
定结果。
金属覆盖层厚度轮廓尺寸测量方法 GB11378-89
本标准等效采用国际标准ISO4518-1980《金属覆盖层厚度轮廓尺寸测量方法》。
本标准规定了测量金属覆盖层厚度的轮廓尺寸方法。适用于测量从0.01~1000微米厚度的金属覆
盖层厚度,尤其适合测量薄覆盖层厚度;当厚度小于0.01微米时,则对工件表面的平直度、平滑度要求很高,测量厚度较困难。本方法适用于制备覆盖层厚度标准块的厚度测量。
2引用标准
GB6061轮廓法测量表面粗糙度的仪器
术语 GB6062轮廓法触针式表面粗糙度测量仪 轮廓记录仪及中线制轮廓计 GB4955金属覆盖层
厚度测量 阳极溶解库仑方法 3原理 通过溶解一部分覆盖层或者先遮蔽—部分基体再镀覆,使基体与覆盖层形成了一个台阶,再用轮廓记录仪测量台阶高度。此高度即为金属覆盖层厚度o
4测试仪器 下列两种类型的轮廓记录仪都可使用。
4.1电子触针式仪器, 即表面分析仪和表面轮廓仪,通常用于测量表面粗糙度,但本标准是用
它记录台阶的轮廓。
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名称 金属覆盖层厚度测量X射线光谱方法
标准编号 GB/T16921-1997
摘要
本标准规定了测量金属覆盖层厚度的X射线光谱方法。本标准规定的方法是一种非接触式无损测厚方
法,可同时测量一些三层体系。本标准所用测量方法基本属于测定单位面积质量的一种方法。如果已知覆
盖层材料的密度,则测量结果也可以用覆盖层的线性厚度表示。覆盖层材料的实际测厚范围主要取决于容
许的测量不确定度。而且因所用仪器设备及操作条件而不同。常用金属覆盖层材料的典型测量范围见附录
A(标准的附录)。
2定义 本标准采用下列定义。
2.1 X射线荧光(XRF) 高能入射x射线照射到材料上产生的二次辐射。此二次辐射具有该材料的波长和能
量特征。 2.2荧光辐射强度 由仪器测量的用每秒计数(辐射脉冲)表示的辐射强度。 2.3 归一化强度(?n) 经过归一化处理的荧光辐射强度。 归一化强度与测量仪器、测量时间、激发辐射强度无关。但测量系统的几何结构和激发辐射能量影 响归—化计数率。 2.4饱和厚度 在一定条件下,材料的荧光辐射强度不再随材料的厚度的增加而产生可检测变化的最小厚
8
度。 注1:饱和厚度取决于荧光辐射的能量或波长,材料的密度和原子序数,以及入射角、荧光辐射与材
料表面的关系。
2.5中间覆盖层 位于表面覆盖层和基体材料之间,厚度应小于其每层各自的饱和厚度的覆盖层。 注2:在测量中,厚度超过饱和厚度的中间覆盖层都可视为真正的基体。
离子镀硬膜厚度试验方法 球磨法 JB/T7707-95 1主要内容与适用范围 本标准规定了离子镀硬膜厚度的球磨试验方法。 本标准适用于由 PVD和CVD方法制成的各种硬膜,也可用于氧化膜和电镀层厚度的
试验。
2球磨法原理和膜厚计算 球磨法属断面观察法,它通过一个添加适量研磨膏的旋转钢球,在试件表面研磨
出一个作观察和测量用的球面凹坑。钢球与膜层表面及基体的接触部分是两个同心圆,
9
范文二:镀层厚度检测仪
OU3500镀层厚度检测仪
使用说明书
附表一:
功能测量原理测量范围测量精度统计量存贮和统计零点校准二点校准删除功能自动关机蜂鸣声提示错误提示
√√√√√√OU3500F磁性
OU3500N涡流
OU3500FN磁性/涡流
标准配置探头(F1/N1):0 1250μm±(3%H+1)μm(零点校准)±(1%H+1)μm(二点校准)
平均值(MEAN)、最大值(MAX)、最小值(MIN)、
测试次数(NO)、标准偏差(S.DEV)
500个测量值
√√√√√√
√√√√√√
标准配置
主机、F1探头、基主机、N1探头、F1(N1)探头、基体、校准片、说明基体、校准片、说体、校准片、说明书、包装箱明书、包装箱书、包装箱F400、N400、F1/90、F10、
CN02
F400、N400、F1/90、F10、
CN02
F400、N400、F1/90、F10、CN02、打印机、
通讯软件
选配件
一、概述
本仪器根据探头类型的不同,分别运用磁感应和涡流原理测量覆层厚度,并符合以下工业标准:
JB/T 8393-1996 磁性和涡流式覆层厚度测量仪
1.1 应用
本仪器是便携式 、快速、无损、精密地进行涂、镀层厚度的测量。既可用于实验室,也可用于工程现场。本仪器能广泛地应用在电镀、防腐、航天航空、化工、汽车、造船、轻工、商检等检测领域。
配置不同的探头,适用于不同场合。1.2 测量原理
本仪器根据探头类型的不同,采用了磁性法和涡流法两种测厚方法。F型探头采用磁性法,可测量磁性金属基体(如钢、铁、合金和硬磁性钢等)上非磁性覆盖层的厚度(如锌、铝、铬、铜、橡胶、油漆等)。
N型探头采用涡流法,可测量非铁磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)和奥氏体不锈钢上非导电覆盖层的厚度(如:橡胶、油漆、塑料、阳极氧化膜等)。1.3 仪器配置
1.3.1 标准配置
主机 ---------------------------------------1台探头(F1或N1) -----------------------1支基体 ---------------------------------------1块标准片 ------------------------------------5片9V碱性电池 ------------------------------1节使用说明书 ------------------------------1本1.3.2 可选件
其他型号探头 ---------------------------(适用于OU3500)打印机 ------------------------------------1台(适用于OU3500B)通讯电缆 ---------------------------------1条(适用于OU3500B)
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1.4 使用环境
温度:0℃ 40℃
湿度:20%RH 90%RH无强磁场环境1.5 电源
一节9V碱性干电池1.6 仪器各部件的名称
1.6.1 主机
1、RS232接口(OU3500B)2、探头插座
3、液晶显示器
4、键盘
1.6.2 液晶显示
1
4
Fe
2
MAX=50.2 MEAN=50.1
1. 工作方式指示 5. 低电压指标
50.0
2. 测量厚度值 6. 设限界指示
- 2 -3.统计值
m m
3
MIN=49.9NO=10
4. 测头类型指标
7. 打印指示
1.6.3 探头1.6.3.1 探头结构
所有探头(CN02除外)都安装在滑套里,以确保探头安全稳定地定位,并保持探头适当的接触压力。滑套前端的V型槽可保证在凸面上准确测量。测量时须握住探头上的滑套,保持探头轴线与被测面垂直。探头的顶端由耐用的硬质材料制成。
1、测头部分2、滑套
3、插头(与主机连接)
1.6.3.2 探头的技术参数
用户根据需要测量工件的特点选用下列不同探头与仪器。
表一:主机可选用探头表
探头主机OU3500A
F1
F1/90
N1
F400
N400
F10
CN02
★
OU3500B★
OU3500A★★★★★★★
OU3500B★★★★★★★
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表二:探头技术参数表:H——标称值
F型:
工作原理探头型号测量范围(mm)低限分辨力(mm)示值误差
一点校准(mm)二点校准(mm)最小曲率半径(mm)测试
最小面积的直径(mm)条件
基体临界厚度(mm)
F4000 4001±(3%H+0.7)±(1%H+0.7)凸
F30.2
1
磁 感 应F1
F1/90°0 1250
1±(3%H+1)± (1%H+1)1.5F70.5
平直F70.5
F100 10000
10±(3%H+10)±(1%H+10)
10F402
N型:
工作原理探头型号测量范围(mm)低限分辨力(mm)一点校准(mm)二点校准(mm)最小曲率半径(mm)测试
最小面积的直径(mm)条件
基体临界厚度(mm)
N400
涡 流N1
CN0210 2001±(3%H+1)
-----仅为平直F7无限制
0 4000 1250
铜上镀铬 0 401±(3%H+0.7)±(1%H+1)凸1.5F40.3
1±(3%H+1.5)± (1%H+1.5)
凸3F50.3
示值误差
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1.6.4 探头的选用参考
表三 探头选用参考表 (1)
覆盖层
基体
有机材料等非金属覆盖层
(如:漆料、涂漆、珐琅、搪瓷、塑料和阳极化处理等)覆盖层厚度不超过100mm被测面积的直径大于30mm
如铁、钢等磁性金属
被测面积的直径小于30mm
F400型探头0 400mm
覆盖层厚度超过100mm
F400型探头 0 400mm F1型探头 0 1250mmF10型探头 0 10mmF1型探头 0 1250mmF400型探头 0 400mmN400型探头 0 400mmN1型探头 0 1250mmN1型探头 0 1250mmN400型探头 0 400mm
F400型探头0 400mm F1型探头0 1250mm
被测面积的直
如铜、铝、黄铜、锌、锡等有色金属
径大于10mm
N400型探头0 400mmN1型探头 0 1250mm
被测面积的直径小于10mm
N400型探头0 400mm
探头选用参考表(2)
覆盖层
基体
非磁性的有色金属覆盖层(如:铬、锌、铝、铜、锡、银等)
覆盖层厚度不超过100mm被测面积的直径大于30mm
如铁、钢等磁性金属
被测面积的直径小于30mm被测面积的直
如铜、铝、黄铜、锌、锡等有色金属
径大于10mm被测面积的直径小于10mm
塑料、印刷线路非金
属基体
被测面积的直径大于7mm
仅用于铜上镀铬N400型探头0 40mm
-----N400型探头0 400mm
覆盖层厚度超过100mm
F1型探头 0 1250mmF10型探头 0 10mm
-----
F400型探头0 400mmF1型探头0 1250mm
-----N1型探头 0 1250mmN400型探头 0 400mm
CN02型探头10 200mm
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二、仪器使用前的准备
使用本仪器前,请务必仔细阅读第3章(校准)和第8章(影响测量精度的因素)
2.1 检查电源
(a) 本仪器使用9V碱性电池。
(b) 按
键,检查电池。
● 开机时无显示,表示无电池或电池电压太低,无法显示。需更换电池。● 无低电压指示,表示电池电压充足。
● 有低电压指示,表示电池电压不足则显示低压指示约1秒钟后自动
关机。这时应立即更换电池。
2.2 更换电池
(a) 按
键关机;(b) (c) 取出电池,放入新电池;(d) 盖好电池仓盖。
注意:仪器长时间不使用时应将电池取出,以避免电池漏液腐蚀仪器。
2.3 选择探头
根据被测工件选择探头(请阅1.6.3探头),安上并拧紧。2.4 测量操作
(a)准备好待测试件,将测头置于开放空间,按一下
常开机后显示上次关机前的测量值;如:
D
Fem m
键开机,正
50.0
机。这时应立即更换电池;
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说明:开机时若电池电压不足则显示低压指示约1秒钟后自动关
(b)如果需要校准仪器,则选择适当的校准方法进行校准(参见第三章);
(c)测量
迅速将测头与测试面垂直地接触并轻压测头定位套,随着一声鸣响,屏幕显示测量值,提起探头可进行下次测量;
(d)关机
在无任何操作的情况下,大约2-3min后仪器自动关机。按一下
键,立即关机。
说明: 1. 如果在测量中探头放置不稳,显示一个明显的可疑值,可删除该值;
2.重复测量三次或三次以上,测量后可显示四个统计值:平均值(MEAN)、测量次数(NO.)、最大测量值(MAX)、最小测量值(MIN)。
2.5 功能设置
2.5.1 工作方式
该仪器具有两种工作方式:直接方式和成组方式
(a)直接方式:此方式用于随意性测量,此方式下可存储100个测量值,当存满100个值时,新的测量值将替掉旧的测量值,总保留最新的100个测量值。
(b)成组方式:此方式便于用户分批记录所测试的数据,一组最多存100个测量值,总共五组,可存500个测量值。当每组存满100个值时,屏幕将显示“存储器满”,此时,仍可进行测量,但是测量值只显示不存储,也不参与统计计算。只有删除该组数据,才能保存新的测量值。每组内设有一个校准值,即该组下各个数据都是基于这个校准值测得的。成组方式下,每个测量统计计算。只有删除该组数据,才保存新的测量值。每组内设有一个校准值都参与统计计算。因为成组方式下,可存贮几套基于不同校准值的测量数据,因此该方式特别适合于现场测量。
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● 两种方式的转换方法:
(a) 仪器开机后,自动进入直接工作方式,工作方式区显示【D】。按
键,显示如右图:
(b) 按
(c) 按
键,进入系统设置;按
键,设置工作方式。
键退出。
或
键,选择【工作方式】设置;说明:【*】表示该组中已有校准值;(d) 按两次
2.5.2 测量方式
该仪器具有两种测量方式:单次测量和连续测量
单次测量──测头每接触被测件1次,随着一声鸣响,显示一个测量结果;
连续测量──不提起测头动态测量,测量过程中不伴鸣响,屏幕
连续显示测量结果;
● 两种方式的转换方法:
(a) 按
(b) 按
(c) 按
量;
键,选择【系统设置】;键,选择测量方式;键,选择单次测量或连续测
键退出。
(d) 按两次
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2.5.3 单位制式转换(公制/英制)
(a) 按
(b) 按
(c) 按
键, 选择系统设置;键,再按
或
键选择
【单位】设置;
键,选择【um】或【mils】;
键,退出。
(d) 按两次
2.5.4 在线打印(用于OU3500B)
在线打印 : 每测量一个值就立即打印这个值,在线打印功能开时,屏幕显示【PRINT】提示符。(a) 按
(b) 按
(c) 按
键, 选择【系统设置】;键,再按
或
键选择
【在线打印】设置;
键选择在线打印:【开】或
键,退出。
【关】;(d) 按两次
说明:在选择“在线打印:开”之前,应按〈6.1打印机的连接〉连接好打印机
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2.5.5 在线统计值
(a) 按
(b) 按
(c) 按
键, 选择系统设置;键,再按
或
键选择
【在线统计值】设置;
键选择在线统计值:【开】
键,退出。
或【关】;(d) 按两次
2.5.6 设置限界
(a) 按
(b) 按
(c) 按
键,然后按
或
键,选
择【限界设置】;
键,进入【限界设置】;键选择【上限】或【下
或
键设定
限】,数据区显示以前设置的上限或下限的值,按
(d) 按两次
新的上限或下限的值;
键,退出。
说明: 1.大于上限或小于下限的测试结果由蜂鸣声报警;
2.限界以外的测试结果与其它测试结果一起被存贮并进行统计计算。3.上限与下限的接近程度是有限的。在上限值为200μm以上时,上、下限最小接近程度为上限的3%,在上限值为200μm以下时,上、下限最小接近程度为5μm。
2.5.7 背光设置
按
键可随时打开或关闭背光。
- 10 -
三、仪器的校准
为使测量准确,应在测量场所对仪器进行校准。
3.1 校准标准片(包括箔和基体)
已知厚度的箔或已知覆盖层厚度的试样均可作为校准标准片。简称标准片。
(a) 校准箔
对于磁性方法,“箔”是指非磁性金属或非金属的箔或垫片。对于涡流方法,通常采用塑料箔。“箔”有利于曲面上的校准,而且比用有覆盖层的标准片更合适。(b) 有覆盖层的标准片
采用已知厚度的、均匀的、并与基体牢固结合的覆盖层作为标准片。对于磁性方法,覆盖层是非磁性的。对于涡流方法,覆盖层是非导电的。
3.2 基体
(a) 对于磁性方法,标准片基体金属的磁性和表面粗糙度,应与待
测试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。对于涡流方法,标准片基体金属的电性质,应当与待测试件基体金属的电性质相似。为了证实标准片的适用性,可用标准片的基体金属与待测试件基体金属上所测得的读数进行比较。
(b) 如果待测试件的金属基体厚度没有超过表一中所规定的临界厚度,可采用下面两种方法进行校准:
(1) 在与待测试件的金属基体厚度相同的金属标准片上校准;(2) 用一足够厚度的,电学性质相似的金属衬垫金属标准片或试件,但必须使基体金属与衬垫金属之间无间隙。对两面有覆盖层的试件,不能采用衬垫法。
(3) 如果待测覆盖层的曲率已达到不能在平面上校准,则有覆盖层的标准片的曲率或置于校准箔下的基体金属的曲率,应与试样的曲率相同。
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3.3 校准方法
本仪器有三种测量中使用的校准方法: 零点校准、二点校准、在喷沙表面上校准。二点校准法又分一试片法和二试片法。还有一种针对测头的基本校准。本仪器的校准方法是非常简单的。
3.3.1 零点校准
(a) 在基体上进行一次测量,屏幕显示。(b) 按
键,屏显<0.0>。校准已完成,可以开始测量了。
(c) 重复上述a、b步骤可获得更为精确的零点,高测量精度。零点校准完成后就可进行测量了。3.3.2 二点校准3.3.2.1 一试片法
这一校准法适用于高精度测量及小工件、淬火钢、合金钢。(a) 先校零点(如上述)。
(b) 在厚度大致等于预计的待测覆盖层厚度的标准片上进行一次测量,屏幕显示。(c) 用
或
键修正读数,使其达到标准值。校准已完成可以开始
测量了。
注意:1.即使显示结果与标准片值相符,按
不可少的,例如按一次
法。
一次
或
键也是必
。这一点适用于所有校准方
2. 如欲较准确地进行二点校准,可重复b、c过程,以提高校准的精度,减少偶然误差。
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3.3.2.2 二试片法
两个标准片厚度至少相差三倍。待测覆盖层厚度应该在两个校准值之间。这种方法尤其适用于粗糙的喷沙表面和高精度测量。(a) 先校零值;
(b) 在较薄的标准片上进行一次测量,用
达到标准值;
(c) 紧接着在厚的一个样片上进行一次测量,用
3.3.2.3 铜上镀铬层的校准方法
或
键修正读数,使其或
键修正读
数,使其达到标准值。校准已完成,可以开始测量了。适用于N型测头,并使用特殊的校准标准片。⊙ 必须使用一试片法。
⊙ 使用标有“铜上镀铬” (CHROME ON COPPER) 字样的特殊标准片。
说明:在温度变化极大的情况下,如冬季或盛夏在室外操作时,应在与待测箔厚度接近的标准片上进行校准。校准时的环境温度应与使用时的环境温度一致。
注意: 1. 出现下列情况,必需重新校准。 -----校准时,输入了一个错误值 -----操作错误
2.在直接方式下,如果输入了错误的校准值,应紧接着做一次测量,随后再做一次校准,即可获取新值消除错误值;
3. 每一组单元中,只能有一个校准值。
4.零点校准和二点校准都可以重复多次,以获得更为精确的校准值,提高测量精度但此过程中一旦有过一次测量,则校准过程便告结束。
3.3.3 修改组中的校准值
删除组单元中的所有数据和校准值之后才能重新校准。否则将出现错误提示和鸣响报警。
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3.4 基本校准的修正
在下述情况下,改变基本校准是有必要的:
----测头顶端被磨损。----特殊的用途。
在测量中,如果误差明显地超出给定范围,则应对测头的特性重新进行校准称为基本校准。通过输入 6个校准值(1个零和5个厚度值),可重新校准测头。
(a) 在仪器关闭的状态下按住
放开
键继续按住
键同时再按
键,显示开机后
健即可进入基本校准状态;在仪器进入基本
校准状态屏幕菜单区显示【基本校准】。
(b) 先校零值 (方法同3.3.1) 。可连续重复进行多次,以获得一个多次校准的平均值,这样做可以提高校准的准确性;
(c) 使用标准片校准,按厚度增加的顺序进行,一个厚度上可做多次。每个厚度应至少是上一个厚度的1.6 倍以上,理想的情况是2倍。
例如F1探头的校准:
首先选5个厚度的校准片分别约为:50μm、100μm、200μm、400μm 800μm。最大值应该接近但低于测头的最大测量范围。
按3.3.1的方法校零后,用厚度约为50μm的校准片在基体进行一次测量,屏幕显示。用
800μm的校准片进行校准。
或
键修正读数,使其
达到标准值。然后按顺序进行厚度约为100μm、200μm、400μm、
注意:1、即使显示结果与标准片值相符,按
必不可少的。
准失败。
或
键也是
2、每个厚度应至少是上一个厚度的1.6 倍以上,否则视为基本校(d) 在输入 6个校准值以后,测量一下零点,仪器自动关闭,新的校准值已存入仪器。当再次开机时,仪器将按新的校准值工作。
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3.5 关于测量和误差的说明
如果已经进行了适当的校准,所有的测量值将保持在一定的误差范围内;根据统计学的观点,一次读数是不可靠的。因此任何由该仪器显示的测量值都是五次“看不见”的测量的平均值。这五次测量是在几分之一秒的时间内由探头和仪器完成的;
● 为使测量更加精确,可利用统计程序在一个点多次测量,对误差较大的测量值可在测量后立即删除。最后覆层的厚度为:
CH = M+S+δ其中: CH:覆层厚度 M:多次测量的平均值 S:标准偏差 δ:仪器允许误差
四、测量与统计
4.1 存储功能
直接方式下自动保留最新的100个测量值。
成组方式下测量值自动存入内存单元,一组最多存100个数值,总共五组,可存500个数值。当每组存满100个值时,屏幕将显示“存储器满”,此时,仍可进行测量,但是测量值只显示不存储,也不参与统计计算。只有删除该组数据,才能保存新的测量值。
4.2 统计计算
本仪器对测量值自动进行统计处理,它需要至少三个测量值来产生5个统计值:平均值(MEAN)、标准偏差(S.DEV)、测试次数(No.)、最大测试值(MAX)、最小测试值(MIN)。参加统计计算的测量值:
● 在直接方式下所有测量值(包括关机前的测量值)均参加统计计算。
注意:当存满100个数值时,总保留最新的100个测量值参加统计计算。
● 在成组方式下,参加统计计算的测量值仅限于本组内的数据。
注意:每组当存满100个数值时,尽管测量能继续,但不能修改统计值。
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4.3 数据浏览
浏览统计值和测量值
(a) 按
(b) 按
(c) 按
键,然后按
键,然后按
或
或
键,选择,可选
【浏览数据】;
择浏览统计值或浏览测量值;
键,选择【统计值】可浏览五个统计值:平均值(MEAN)、标准偏差(S.DEV)、测试次数(No.)、最大测试值(MAX)、最小测试值(MIN);(d) 按
键,选择【测量值】在直接方式下,可浏览该方式下的所有测量值,在批组方式下可浏览该组的所有测量值,浏览时用
行换页。(e) 按三次
键退出。
或
键进
MEAN=50.2S.DEV=0.1MAX=50.4MIN=50.1
002 003 004 005 006 007 008
m50.4mm50.2mm50.2mm50.2mm50.2mm50.2mm50.1m
五、删除功能
5.1 删除当前测量值
无论在直接方式或成组方式下,只要在测量值显示状态,按一下
键,随着一声鸣响,当前测量值已被删除。
5.2 删除当前组数据
删除直接方式或成组方式下当前组的所有测量值
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(a) 按
键,然后按
或
键,选择
【功能选择】;
(b) 按
键,进入【功能选择】;按 或
键,选择【删除当前组数据】;(c) 按
键,显示删除确认提示,再按
键,当前文件中的测量值已
被删除。(d) 按两次
键,退出。
5.3 删除当前组所有数据
删除直接方式或成组方式下当前组的所有测量值,统计值、两点校准值、限界值
(a) 按
键,然后按
或
键,
选择【功能选择】;
(b) 按
键,进入【功能选择】;(c) 按
或
键,选择【删除所有
数据】;
(d) 按
键,显示删除确认提示,再按
键,当前文件中所有测量
值、统计值、两点校准值、限界值已被删除。e) 按两次
键,退出。
- 17 -
六、打印(用于OU3500B带打印机)
6.1 打印机的连接
(a) 将打印机与主机用通讯电缆连接;
(b) 按
键打开主机;
(c) 将打印机设置为:波特率9600、8位数据、1位起始位、1位停止位、无校验;
6.2 打印功能操作
(a) 按
(b) 按
键,然后按
键,然后按
或
或
键,选择“功能选择”;
键,可选择打印测量值、打印统计
值、打印所有值:
打印测量值----------打印当前工作方式下的所有测量值打印统计值----------打印当前工作方式下的五个统计值
打印所有值----------在直接方式下,打印测量值、统计值;在批组方式下则打印该组方式下的所有测量值、统计值、限界、直方图(c) 直方图: (d)按两次
- M
|| *****
*******************||||||||
40
80%
- 18 -
键,退出。80%
LO:设置的下界HI:设置的上界 M:平均值纵坐标表示测量值
横坐标表示测量值所占的百分比
40
LO |----------------------------
注意: 1.在设置限界之后才能打印出直方图;
HI |----------------------------
七、与PC机通讯(用于OU3500B
带通讯)
与PC机通讯之前,按下图所示,
用本仪器附带的通讯电缆,将仪器与
PC机的串行接口连接好,仪器可将
测量值全部发送到PC机。发送数据的
波特率为9600,8位数据位,1位停止
位,无校验位。
(a) 按
(b) 按
后按
据】;
(c) 按
键,在直接方式下,发送测
量值、统计值;在批组方式下则发
送该组的所有测量值、统计值;
(d) 按两次
键退出。键,然后按
或
键,选择【功能选择】;键,进入【功能选择】然或
键,选择【发送数
八、影响测量精度的因素
8.1 影响因素的有关说明
基体金属磁性质
磁性法测厚受基体金属磁性变化的影响(在实际应用中,低碳钢磁性的变化可以认为是轻微的),为了避免热处理和冷加工因素的影响,应使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准;亦可用待涂覆试件进行校准。
(a) 基体金属电性质
基体金属的电导率对测量有影响,而基体金属的电导率与其材料成分及热处理方法有关。使用与试件基体金属具有相同性质的标准片对仪器进行校准。
- 19 -
(b) 基体金属厚度
每一种仪器都有一个基体金属的临界厚度。大于这个厚度,测量就不受基体金属厚度的影响。本仪器的临界厚度值见附表1。(c) 边缘效应
本仪器对试件表面形状的陡变敏感。因此在靠近试件边缘或内转角处进行测量是不可靠的。
(d) 曲率
试件的曲率对测量有影响。这种影响总是随着曲率半径的减少明显地增大。因此,在弯曲试件的表面上测量是不可靠的。
(e) 试件的变形
测头会使软覆盖层试件变形,因此在这些试件上不能测出可靠的数据。
(f) 表面粗糙度
基体金属和覆盖层的表面粗糙程度对测量有影响。粗糙程度增大,影响增大。粗糙表面会引起系统误差和偶然误差,每次测量时,在不同位置上应增加测量的次数,以克服这种偶然误差。如果基体金属粗糙,还必须在未涂覆的粗糙度相类似的基体金属试件上取几个位置校对仪器的零点;或用对基体金属没有腐蚀的溶液溶解除去覆盖层后,再校对仪器的零点。
(g) 磁场
周围各种电气设备所产生的强磁场,会严重地干扰磁性法测厚工作。(h) 附着物质
本仪器对那些妨碍测头与覆盖层表面紧密接触的附着物质敏感,因此,必须清除附着物质,以保证仪器测头和被测试件表面直接接触。(i) 探头压力
测头置于试件上所施加的压力大小会影响测量的读数,因此,要保持压力恒定。
(j) 探头的取向
测头的放置方式对测量有影响。在测量中,应当使测头与试样表面保持垂直。
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8.2 使用仪器时应当遵守的规定
(a) 基体金属特性
对于磁性方法,标准片的基体金属的磁性和表面粗糙度,应当与试件基体金属的磁性和表面粗糙度相似。
对于涡流方法,标准片基体金属的电性质,应当与试件基体金属的电性质相似。
(b) 基体金属厚度
检查基体金属厚度是否超过临界厚度,如果没有,可采用3.3)中的某种方法进行校准。
(c) 边缘效应
不应在紧靠试件的突变处,如边缘、洞和内转角等处进行测量。(d) 曲率
不应在试件的弯曲表面上测量。
(e) 读数次数
通常由于仪器的每次读数并不完全相同,因此必须在每一测量面积内取几个读数。覆盖层厚度的局部差异,也要求在任一给定的面积内进行多次测量,表面粗造时更应如此。
(f) 表面清洁度
测量前,应清除表面上的任何附着物质,如尘土、油脂及腐蚀产物等,但不要除去任何覆盖层物质。
九、保养与维修
9.1 环境要求
严格避免碰撞、重尘、潮湿、强磁场、油污等。
9.2 故障排除
下面的错误信息表告诉您如何去识别和排除故障:
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表5-1 错误信息表
错误提示
仪器故障
测量波动大修理探头或主机测量值发生大的波动(例如在软覆盖层上测量时);磁场影响在软质覆盖层上测量时,应采用辅助装置
进行测量;远离强磁场环境
测头离基体太近
测头型号不符开机时将测头远离基体测头型号与本组原有数据对应的测头型号不符选择合适的测头
另选一个未使用的组单元,删除后重新校准
零点偏差太大
已有校准值选择合适的基体或修理仪器另选一个未使用的分组单元或删除后重新校准原因及解决办法
如果未显示错误而工作不正常,例如:
(a) 仪器不能自动关机;
(c) 键不工作; (b) 不能测量;(d) 测量值反复无常。
出现这类故障时,先取出电池使仪器关机,几分钟后再装入电池,然后使仪器强制复位。强制复位的方法是:
(a).关机后,按住
(b).按
键,然后再按
键,直到屏幕显示“复位?”;
键以外的键,屏幕显示“复位”进行强制复位;(c).在显示“复位?”状态,若要放弃强制复位,按除
其它任意键或等待几秒后即可。
注意:执行强制复位后,以前的测量值、基本校准值、两点校准值、上下限界值已丢失,用户须重新进行基本校准(基本校准方法见3.4)。
当用户通过上述方法仍不能排除故障时,请用户不要拆机自修。填妥保修卡后,请将仪器交我公司维修,执行保修条例。
如果能将出现错误的情况简单描述一下,一同寄出,我们将会非常感谢您。
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范文三:镀层厚度检测仪
镀层厚度检测仪
一、概述
沧州欧谱OU3600涂层测厚仪是欧谱公司最新研发的新产品,是一种小型便携式仪器,磁性测厚仪也称涂层测厚仪、镀层测厚仪、涂镀层测厚仪。其性能稳定、测量准确、重现性好、经济耐用,符合国家标准GB/T4957,多次通过国家技术监督部门的性能试验,获得计量器具制造许可证。 OU3600涂层测厚仪探头
· 测厚仪最容易损坏的部件是探头,本公司的OU3600涂层测厚仪对探头做了特殊的耐久性设计,具有防磕碰、防水、探头线防折曲等防护功能。
OU3600涂层测厚仪探头线
· 由于涂镀层测厚仪使用频率很高,探头线成为易损件。一般国产仪器的探头用不多久就会出现故障,多数问题出在探头线上。 OU3600涂层测厚仪使用的探头线是在日本定做的。这种导线最初用于机器人,规定可经受几百万次的曲折。实践证明,这种探头线很少有因频繁曲折而损坏的。
二、主要特点:
1. 零位稳定:所有涂层测厚仪测量前都要求校准零位,可以在随仪器的校零板或未涂覆的工件上校零。 仪器零位的稳定是保证测量准确的前提。一台好的测厚仪校零后,可以长时间保持零位不漂移,确保准确测量。
2. 线性编辑:多数涂层测厚仪除了基础校零外,仪器本身没有线性编辑,使得测量重复性误差大,本仪器出厂加入线性编辑增加测量精度与重复稳定性。
3. 温度补偿:涂覆层厚度的测量受温度影响非常大。同一工件在不同温度下测量会得出很大的误差。所以好的测厚仪应该具备理想的温度补偿技术,以保证不同温度下的测量精度。
4. 独特的直流采样技术:使得测量重复性较传统交流技术有无可比拟的优越和提高。
OU3600涂层测厚仪是德国EPK/易高等同类产品的替代产品,与之前涂层测厚仪相比有以下主要优点: 1. 测量速度快:测量速度比其它TT系列快6倍;
2. 精度高 :本公司产品简单校0后精度即可达到1-2%是目前市场上唯一能达到A级的产品,其精度远高于国内同类,比EPK等进口产品精度也高;
3. 稳定性:测量值的稳定性和使用稳定性优于进口产品; 4. 功能、数据、操作、显示全部是中文OU3600覆层测厚仪
三、适用范围
OU3600涂层测厚仪采用了磁性和涡流两种测厚方法,可无损地测量磁性金属基体( 如钢、铁、合金和硬磁性钢等 )上非磁性覆盖层的厚度(如铝、铬、铜、珐琅、橡胶、油漆等)及非磁性金属基体(如铜、铝、锌、锡等)上非导电覆盖层的厚度(如:珐琅、橡胶、油漆、塑料等)。
本仪器广泛地应用在电镀、防腐、航天航空、化工、汽车、造船、轻工、商检等检测领域。是材料保护专业必备的仪器。
OU3500型在OU3100型涂层测厚仪基础上增加以下功能 1.OU3500型分辨力提升到0.1um
2.分体式设计,自由更换6种针对不同涂层厚度设计的探头 3.背光设计更适合光线暗的环境使用 4.储存500组数据功能,方便用户查看
5.测量次数、最大值、最小值、平均值、上下限设制
6.OU3600型增加与电脑连接功能,可以方便的连接电脑直接测量数据
范文四:螺丝镀层厚度的标准
深圳创固螺丝www.zigongluosi.com www.zuheluosi.com www.sanjueyaluosi.com
螺丝镀层厚度的标准
一般来说,铁的螺丝,也就是碳钢螺丝。一般都是需要电镀处理的。根据客户所需要的颜色。拿去电镀厂电镀。电镀螺丝也有很多方面的专业电镀问题。比如说螺丝电镀层就是一个比较专业的问题。作为专业生产制造螺丝厂家的肯定是需要多了解下电镀方面专业基础知识。今天就为大家介绍一下,螺丝镀层厚度的一些标准。方便以后采购人员问到我们时。我们能回答得上来。
一般来说,螺丝电镀层的标准很多是看客户要求。客户要求多少u,我们就叫电镀厂电镀层达到多少u。如果客户没有要求。那就是正常的,常规的电镀层要求来走。如果客户没有特殊要求,冷镀锌一般在3-5u左右。热浸锌一般在50u左右。达克罗可能在4.-5u左右。这些电镀层标准要求是电镀厂提供的。供给大家参考。
当然,不同的螺丝,电镀种类不同的话,那么电镀层肯定的也或多或少有不同。但关键还是得看客户对螺丝电镀层有没有特殊的要求,如果有,那就叫电镀厂按客户的要求电镀层来去电镀。如果没有,那就按常规的螺丝电镀层去电镀处理。
范文五:涂层、镀层厚度检测与测厚仪
涂层、镀层厚度检测与测厚仪
耋辜三塞王叔孙深圳华丰化工有限公司.
摘要:本文介绍了涂层,镀层测厚仪的
原理,校准影响测量值的因素及解决方法
对材料表面保护,装饰形成的覆盖层,如
涂层,镀层,敷层,贴层,化学生成膜等,在有
关国家和国际标准中称为覆层(Coating).
覆层厚度测量巳成为加工工业表面工
程质量检测的重要一环,是产品达到优等质
量标准的必备手段.为使产品国际化,我国
出口商品和涉外项目中,对覆屡厚度都有了
明确的要求.
覆层厚度的铡量方法主要有:楔切法,
光截法,电解法,厚度差测量法,称重法,
X射线莹光法,B射线反向散射法,电容法,
磁性测量法及涡流渊量法等.这些方法中前
五种是有损检测,测量手段繁锁,速度慢,
多适用于抽样检验.
X射线和日射线法是无接触无损测量,
但装置复杂昂贵,测量范围较小.因有放射
源,使用者必须遵守射线防护规范.X射线
法可测极薄镀层,双镀层,台金镀层.日射
线法适合镀层和底材原予序号大于3的镀层
测量.电容法仅在薄导电体的绝缘覆层铡厚
时采用
而随着技术的日益进步,特别是近年来
引入微机技术后,采用磁性法和涡流法的测
厚仪向微型,智能,多功能,高精度,实用
化的方向进了一步.测量的分辨率巳达0.1
m,精度可迭l西有了大幅度的提高.
它适用范围广,量程宽,操作简便且价廉,
是工业和科研使用最广泛的测厚仪器.
?42,
采用无损方法既不破坏覆层也不破坏基
材,检测速度快,能使大量的检测工作经济
地进行.
一
,翻?躁理与便?
t.磁吸力测量原理及测厚仪
永久磁铁(测头)与导磁钢材之间的吸
力大小与处于这两者之间的距离成一定比例
关系,这个距离就是覆层的厚度利用这一
原理制成测厚仪,只要覆层与基材的导磁率
之差足够大,就可以进行测量.鉴于大多数
工业品采用结构钢和热轧,冷轧钢板冲压成
型,所以磁性测厚仪应用最广.测厚仪基本
结构由诺钢,拉力簧,标尺及自停机构组
成.磁钢与被测物吸台后,将测量簧在其后
逐渐拉长,拉力逐新增大.当拉力刚好大于
吸力,磁钢脱离的一瞬间记录下拉力的大小
即可获得覆层厚度.新型的产品(专利)可
以自动完成这一记录过程.不同的型号有不
同的量程与适用场合.
这种仪器的特点是操作简便.坚固耐
用,不用电源,澍量前无须校准,价格也较
低,裉适台车间做现场质量控错
2.磁感应测量原理
采用磁惑应原理时,利用从测头经过非
铁磁覆层而流入铁磁基体的磁通的大小来
测定覆层厚度.也可以测定与之对应的磁阻
的大小,来表示其覆层厚度.覆层越厚,则
磁阻越大,磁通越小.利用磁麝应原理的测
厚仪,原则上可以测量所有导磁基体上的非
导磁覆层厚度.一般要求基材导磁率在500
以上.如果覆层材料电有磁性,则要求与基
材的导磁率之差足够大(如钢上镀镍).当
软铁芯上绕着线圈的测头放在被浏样品上
时,仪器自动输出铡试电流或铡试信号.早
期的产品采用指针式表头,测量惑应电动势
的大小,仪器将该信号放大后来指示覆层厚
度.近年来在电路设计上引入稳额,锁相,
温度补偿等最新技术,利用磁阻来调制测量
信号.还采用专利设计的集成电路.日;入微
机,使测量精度和重现性有了大幅度的提高
(几乎达一个数量级).现代的磁感应铡厚
便分辨率达到o.1m,允许误差达1%
量程达10”o1111.
磁性原理测厚仪可应用来精确铡量钢铁
表面的油漆层,瓷,搪瓷防护层塑料,橡
胶覆层,包括镍铬在内的各种有色金属电镀
层以及化工石油行业的各种防腐涂层.
3.电涡流铡量原理
高频交流信号在测头线圈中产生电磁
场,测头靠近导体时.就在其中形成涡流.
浏头离导电基体愈近,则涡流愈大,反射阻
抗也愈大.这个反馈作用量表征了铡头与导
电基体之间距离的大小也就是导电基体上
非导电覆层厚度的大小.由于这类铡头专门
铡量非铁磁金属基材E的覆层厚度,所以通
常称之为非磁性测头.非磁性测头采用高
频,高导磁材料做线圈铁芯,例如铂镍台金
或其它新材料.与磁感应原理比较,其主要
区别是铡头不同.测试电信号的额率不
同,信号的大小标度关系不同.与磁感应
铡厚仪一样,涡流铡厚仪也达到了分辨率
0.1m.允许误差1嘶,量程lOmm的高水
平.
采用电涡流原理的测厚仪,原则上对所
有导电体上的非导龟体覆层均可翮量,如航
天航空器表面车辆,家电,铝合金门窗及
其他铝制品表面的漆.塑料涂层及阳极氧化
膜.覆层材料有一定的导电性.通过校堆同
样也可测量,但要求两者的导电率之比至少
相差3—5倍(如铜上镀铬).虽然钢铁基
体亦为导电体,但这类任务还是采用磁性原
理测量较为合适.
4.电脑铡厚仪
由于磁感应测厚仪和电涡流测厚仪在电
路上具有相近的结构,更由于采用了微机技
术,使仪器智能化自动化程度大大提高.
近年来,一些厂商将这两种原理综合在一台
仪器中,配合两类多种头,成为万能
测厚仪,减少了用户负担.
万能电脑测厚仪在不断改进测头结构的
基础上,已经能够自动识别不同铡头来调用
不同的控制程序.对不同的测头,仪器分别
输出相应波形和频率的弼试电信号,改变标
度变换软件.可配接多达lo种测头的铡厚仪
极大地扩展了测厚范围(达1o万倍以上,从
0.1m到101”~m)可测多种基材一覆层组
合.这些组合包括导磁基材表面上的非导磁
覆层,导电材料上的非导亳覆层及绝缘材料
上的导电层(如敷铜板的铜箔),基本满足
了工业生产多数行业的需要.
测试数据在智能化仪器里可以存储,打
印,统计分析.还可以打印直方图.使覆层
厚度分布一目了然.如果设置了上下限.测
量时所有褪限的点都有声响提醒.
现代实验室和计量部门大多配备了个人
电脑(PC),现代的测厚仪都备有计算机
接口.实现了与Pc的数据交换.测试数据
可以在PC中作深入的数据后分析处理,铡
厚仪也可听命于Pc机,适时自动完成各种
测量.-
=,控准
测量要准确.要达蓟仪器规定的指标,
使用前就必须校准.校准的原则是无覆层的
校准试样与被测物的基材应具有相同成
份,相同厚度(在厚度小于仪器规定的最小
值以下时),相同的曲率半径,若被测面积
‘辱?
小于仪器技术参数的要求(直径约20ram以
下),还应有相同的被测面积校准样本与
被测样本二者的覆层,还应具有相同导电或
导磁佳能.校准试样的覆层必须经过厚度标
定或采用已标定的校准薄片(校准薄片一般
采用三醋酸酯薄膜,或经苯酚树脂浸渍过的
硬纸).在这样的基体一覆层上,就可以按说
明书的方法校准测厚仪了,校准后的仪器方
可保证规定的精度和允许误差.
微电脑测厚仪一般有多个校准值存储.
随着被测产品位置,形状,材料以及测头
更换等条件的变化,测厚仪均应分别校准.
将校准值存储起来,实际使用时可直接调用
对应各校准值,而无须重新调校,从而大大
提高了检测效率.这就是所谓速换基准”.
校准的目标是使读数和实际值之间达到
一一
对应的线性关系仪器说明书上的校准
方法,都是要达到零点校准,斜率校准和线
性校准的目的性能优良的高级测厚仪除能
保证全程线性及准确度外,还可提供透过覆
层校准的功能,方便用户在困难的现场条件
下使用.
三,影响曩量值的园素与解袅方法
用磁性原理和涡流原理的覆层测厚仪都
是基于被测基体的电,磁特性以及基体与探
头的距离来测量覆层厚度的.所以被测基体
的电磁特性与物理尺寸都要影响磁通量(磁
阻)与电涡流(反射阻抗)的大小,即影响
到测量值的可靠牲.
1.边界距离
如果探头与被测体边界,孔眼,空腔,
其他截面变化处的间距小于规定的边界间
距,由于磁通或涡流载体截面不够将导致测
量误差如必须测量该点的覆层厚度,只有
预先在相同条件的无覆层表面进行校准,才
能测量.
2.基体表面曲率
在一个平面的对比试样上校准好一个初
‘44t
始值,然后在另一个覆层度相同,但曲率不
同的对比试样上测试如果它们的数值一样
则说明没有影响,如发现结果不同,则说明
曲率改变了磁路长度,并且影响了测量结
果这时只有预先在一个条件相同的表面上
进行校准后,才能测量对于不能由使用者
校准的磁吸力测厚仪,可以修定读数.方法
是在没有涂层的曲面上先测取一个初始值,
然后在测量覆层厚度后减去这个初始值.
3.基体金属最小厚度
仪器必须给定基体金属的最小厚度,使
探头的电磁场能完全包容在基体金属中最
小厚度与测厚仪的性能及基体金属的性质有
关,大于这个厚度测量时不必修正测量值.
对于基体厚度过小而产生的影响,可在基材
下面紧贴一块相同材料予以消除.如难以决
断,或无法加基材则可以通过与已知覆层厚
度的试样进行对比来确定与额定值的差值,
并在测量中做相应的修正.对那些可以校准
的仪器通过调节调整旋钮或按键,便可以得
到准确的直读厚度值
反之,利用厚度太小产生的影响又可以
研制如前所述的直接测铜箔厚度的测厚仪.
4.表面粗糙度和表面清洁度
在粗糙表面上为获得一个有代表性的平
均测量值必须进行多狄测量显而易见.不
论是基体或是覆层,越粗糙.测量值越不可
靠.为获得可靠的数据,.基体的平均粗糙度
Ra应小于覆层厚度的5呖.而对于表面杂
质.则应予去除.有的仪表可设上下限,以
剔除那些飞点.
5.测量时的作用力
探头测量时的作用力应是恒定的,并尽
可能小,才不致使软的覆层发生形变,导致
测量值下降.必要时,可在两者之间垫一层
硬的,不导电的,且厚度已知的硬性薄膜
这样在结果中减击薄膜厚度就得到正确的读
值.
6.外界恒磁场,电磁场和基体剩磁
应该避免在有干扰作用的外界磁场附近
进行测量.残存的剩磁,根据检测器的性能
可能或多或少地导致测量误差.
7.覆层材料中的铁磁成份和导电成份
覆层中存在某些铁磁成份,如某种颜
料,对测量值产生影响,在这种情况下,用
作校准对比试样的覆层应具有与被测物覆层
相同的磁特性.实用的方法可以是将同样的
覆层涂在铝或铜板试样上.用电涡流法测试
得对比标准试样.也可向有关计量测试部门
购得.
同理,对含有导电成份的颜料用电满
流法时也会对测量值产生影响,可以参照上
述用磁感应方法修正之
四,结语
剃用磁性和电涡流原理制成的覆层测厚
仪.能解决大多数工业应用的实际问题,是
最经济实用的无损检测方法,也是应用最广
泛的涂层,镀层测厚仪.
生产中遇到的在玻璃钢,陶瓷,塑料上
的金属镀层可以利用涡流原理测量,但是对
油漆之类的涂料层则只能用8射线法或甩楔
切法测量.后者是有损表面的方法,测完后
需要修补.实际中通过控制湿膜厚度间接控
制干膜厚度也是可行的方法.
对于非导磁性金属或合金钢上的镀镍层
可以利用吸力式测厚仪(专用),而其他金属
镀层只能使用射线法.但是对许多金屠层的
搭配还可以利用电解腐蚀法测厚.当然也属
手有损检测.
所有的无损测量方法都要受到测量条件
的限制.如前所述,只要注意到条件产生的
影响.用适当的方法修正,可使测量范围扩
大.根据经睑象基材的厚度限制能从厂商
要求的0.5ram减少到o.1mln.一般仪器制
造厂推荐的较详细的修正方法,也可采用.
至于在其他国家标准中提及的修正方法,限
于篇幅请容以后介绍.
涂层针孔检测仪是一种表面防腐工程必
备的测试仪器.用于检测管道,罐釜等防腐
层中的微小缺陷.德国EPK公司出品的这
种仪器分直流和脉冲式两种,均符合国际标
准(DIN,VDE)和我国石油天然气总公
同的标准(SYJ),其突出的特点是检测信
号电压稳定,安全,且连续可调,并锁定.
检测对应涂层厚度为0.2-12mln,一次充电
可工作十小时,现场使用十分方便.
ThicknessInspectingandPachymeterofCoatingand
PlatingLayer
WangShushun
CoatingIndustryChinaChemiea1IndustryMinistry
HunIengChemica1IndustryLtd.C.ShenzhenChinn
Abstract?thlspaper,theprincipleandcalibrationofpachymeter.
whichforcoatigandPlating1nyers.ispresent.Italsotellsthatthefa—
ct0rswhichinf1ueacethemensurevaluesandhowtosolveit.
45?
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