范文一：制样条件对介孔硅扫描电镜图片的影响

第 40 卷第 6 期 中国测试 Vol.40 No.6November，2014 2014 年 11 月 CHINA MEASUREMENT & TEST

doi:10.11857/j.issn.1674-5124.2014.06.010

制样条件对介孔硅扫描电镜图片的影响

曹 惠, 林美玉

(复旦大学先进材料实验室，上海 200438)

摘 要:为研究不同制样方法对导电性较差样品的扫描电镜图片的影响，以介孔硅材料为研究对象，采用场发射扫描 电镜(FESEM)，分别比较介孔硅粉末样品、溶液样品和薄膜样品在不同制样条件下的 FESEM 图片。结果表明:当扫描

电镜测试参数完全相同时，介孔硅粉末样品在导电基底(液体银导电胶或碳导电胶带)上分散较好时可获得高质量的

电镜图片;介孔硅球溶液样品制备在铜网上时，可消除荷电现象;对于连续的介孔硅薄膜样品，基底对扫描电镜图片质

量的影响不大。因此，对样品前处理过程进行优化，不仅可获得高质量的扫描电镜图片，而且为实验结果的真实性提供

有力保证。

关键词:场发射扫描电镜;介孔硅;制样方法;基底

++中图分类号:O793;O613.72;TG115.215;TM201.44 文献标志码:A 文章编号:1674-5124:2014:06-0038-04

Impact of sample preparation conditions on mesoporous silica SEM images

CAO Hui，LIN Mei-yu

(Advanced Materials Laboratory，Fudan University，Shanghai 200438，China)

Abstract: In order to study the impact of different sample preparation methods on the field emission scanning electron microscopy (FESEM) images of the sample with poor conductivity, FESEM images of mesoporous silica powder, solution and film samples at different preparation conditions were compared. The results showed that as the test parameters were identical, SEM images with high quality could be realized as mesoporous silica powder dispersed well on the conductive substrate (liquid silver conductive adhesive or carbon conductive tape). The charging phenomenon could be eliminated as mesoporous silica spheres solution sample was prepared on the carbon-coated copper grid. For the continuous mesoporous silica thin film samples, the substrate had little effect on the quality of SEM images. Therefore, high -quality scanning electron microscope images and a strong authenticity of the experimental results could be realized based on the optimization of the sample preparation process.

Keywords: field emission scanning electron microscope; mesoporous silica; preparation method; substrate

由于介孔材料的孔径和孔壁等对其热和水热等稳定 0 引 言

性影响很大,从而影响其应用范围;因此,研究介孔 介孔材料是指孔径介于 2~50 nm 的一类多孔材

材料都需要对孔径大小及孔结构等进行表征,而场 料 , 其具有比表面积高 、 孔 道 结 构 规 则 有 序 、 孔径

发射扫描电镜:FESEM:基于其分辨率高及对导电性 分布狭窄及孔径大小连续可调等特点,广泛应用于催

[1-4]化要求低等特点、吸附、光子学、电子学、传感器及能源等领域。 ,已成为目前分析纳米材料形貌及结 [5-8]构最简单且最有效的方法之一。 目前合成的介孔 收稿日期:2014-05-24;收到修改稿日期:2014-07-29

作者简介:曹 惠(1981-)，女，江苏连云港市人，工程师， 材料中,有许多材料导电性较差甚至不导电、孔 径 小 博士，主要从事电子显微镜检测及维护工作。 或孔道结构较浅等,若进行镀膜会遮盖其孔道结构,

第 40 卷第 6 期 曹 惠等:制样条件对介孔硅扫描电镜图片的影响 39

难以获得介孔材料的真实形貌信息;因此,在不喷镀 数,而下探测器需要在较大的工作距离下使用,不适 的情况下获得高质量的扫描 电 镜图片是介孔材料 合高倍拍摄。 二次电子在入射电子束的作用下,被轰 相关研究的基础。 通常可通过以下 2 个途径来提高 击出来并离开样品表面的原子核外电子,它的能量 导电性较差样品扫描电镜图片的质量:1:选择较优 比较小,一般只有在表层 5~10 nm 的深度范围才能发

[5,9-10][10-11]的拍摄条件射出来,采用低加速电压、下探测器及 , 所以它对样品的表面十分敏感 , 能有效 地

[1012]-加入背散射信号等方法解决样品的荷电问题;2: 显示样品表面形貌。 而背散射反映的是微米级深度 通过改进制样方法来提高样品的导电性。 本文以未 的信息, 对于纳米级的介孔材料 , 加入背 散 射 电 子 镀膜的介孔硅为研究对象,比较不同的制样方法对 后会极大降低分辨率。 因此,对于介孔硅材料,较适 介孔硅扫描电镜图片质量的影响宜拍摄条件是采用较低的电压及较小的工作距离,为介孔硅研究人 。

本文所有图片测试条 件皆固定为电压 1 kV, 工 作 员和电镜工作者选用合适的制样条件提供参考。

距 离 1.6~1.7 mm, 电流 7 μA, 且采用线平 均 :CS: 扫 1 实验部分

描模式及上探测器拍摄 , 针对介孔硅粉末 、 溶液 及 1.1 试剂

薄膜样品,比较了不同制样方法对扫描电镜图片的 三 嵌 段 聚 合 物 F127 模 板 剂 ; 正 硅 酸 乙 酯

影响。 :TEOS:。

1.2 样品制备 2.1 介孔硅粉末样品

图 1:a)和图 1:b:分别是介孔硅 SBA5 粉末在 -11.2.1 粉末样品

1:碳导电胶带。 将导电胶带粘在铝样品台上,取 碳导电胶带上分散较薄及较厚样品的扫描电镜图 适量介孔分子筛 SBA-15 粉末散落在导电胶带上, 片。 图 1:a:比图 1:b:更加清晰且未出现漂移及变 为了让样品与导电胶带更好地粘附,可将载有粉末的 形;图 1:b:局部区域出现荷电,图像甚至有所变形。 铝样品台轻敲几下,再反复用洗耳球吹去未牢固的 这是由于介孔硅导电性较差,当样品较厚时,不能与 样品。 导电胶充分接触, 样品表面因吸收电子而带负电,

2:液体银胶。 滴取少量液体银胶铺展在铝样品 就会产生一个静电场干扰入射电子 束和二次电子 台上,在液体银胶中溶剂还未完全挥发前将 SBA-15 发射,进而会出现对图像产生严重影响的荷电效应,

[13]粉末样品散落在银胶上,晾干待用。 如图像漂移、亮点与亮线及较难消除的相散等。 1.2.2 溶液样品 图 2:a)和图 2:b:分别是 SBA-15 粉末在液体银

分别将介孔硅球的乙醇溶液滴至普通玻璃、单 胶上分散较薄及较厚样品的扫描电镜图片。 图 2:a: 晶硅片、氧化铟锡:ITO:导电玻璃及铜网基底上,晾 与图 2:b:相比,也有类似于图 1:a: 与图 1 :b: 的比 干待用。 为了提高样品的导电性及尽量减少图像漂 较结果,即同样是分散在液体银胶的粉末样品,当样 移,介孔硅球溶液分散在以上 4 种基底上时,均采用 品制得较薄时,易获得高分辨率的扫描图片:图 2:a::; 导电胶带将样品表面与铝样品台相连。 当样品很厚时,易产生图像漂移、相散较难消除等现 1.2.3 薄膜样品 象,图片质量大幅下降,较为严重时,拍照十分困难

分别将三嵌段聚合物 F127 模板剂的盐酸溶液 且难以拍清孔道结构:图 2:b::。 以上电镜图片结果 与硅前驱物正硅酸乙酯:TEOS:的乙醇溶液旋转涂 表明,对于粉末样品,不管是用碳导电胶带还是液体 布于普通玻璃 、 单晶硅片和ITO 导电玻璃上 , 静置 银胶,应尽可能将样品制薄,使样品与导电胶充分接 48 h,马弗炉 550 ?焙烧除去 F127。 与溶液样品制样 触,利于提高其导电性能,在相同的拍照条件下,可 类似,采用导电胶带将样品表面与铝样品台相连。 获得更高质量的图片。 当粉末样品的颗粒度较大时, 1.3 仪器 先通过研磨降低颗粒度大小再分散到导电胶上,也

扫描电镜:S-4800 FESEM,日本 Hitachi 公司生 有利于提高样品的导电性,进而获得更加清晰的图片。 产 ; 旋 转 涂 层 机 :KW-4A, 美 国 Chemat Technology 2.2 介孔硅溶液样品

公司生产。 图 3 是介孔硅球乙醇溶液分别在普通玻璃、单 2 结果与讨论 晶硅片、ITO 导电玻璃和铜网基底上干燥后 的 扫 描

虽然已有研究表明对于导电性较差的样品,采 电镜图。 比较这 4 张图可知,以普通玻璃为基底的 用低加速电压、下探测器及加入背散射信号等可以 扫描电镜:图 3:a::有较为明显的荷电效应,图像出 [5,9-12]解决样品的荷电问题。 但很多介孔材料的孔径 现变形; 以铜网为基底的介孔硅球的孔道结构最清 都较小, 通常需要拍摄10 万倍甚至更 高 的 放 大 倍 晰:图 3:d::;介孔硅球溶液在单晶硅片和ITO 导 电

2014 年 11 月 40 中国测试

:a:较薄样品 :a:普通玻璃

:b:较厚样品

:b:单晶硅片 图 1 SBA-15 分散在碳导电胶带上的电镜图

:c:ITO 导电玻璃 :a:较薄样品

:d:铜网 :b:较厚样品 图 3 介孔硅球乙醇溶液制备在不同基底上的电镜图 图 2 SBA-15 分散在液体银胶上的电镜图

第 40 卷第 6 期 曹 惠等:制样条件对介孔硅扫描电镜图片的影响 41 :b:单晶硅片 :a:普通玻璃 :c:ITO 导电玻璃

图 4 介孔硅薄膜制备在不同基底上的电镜图

玻璃基底上也能得到较为清晰的 图 片 : 图 3 :b:, [2] Davis M E. Ordered porous materials for emerging

applications[J]. Nature,2002,417:6891::813-821. 图 3:c::。 这是因为铜网比较薄且导电性好,常温下

[3] He X,Antonelli D. Recent advances in synthesis and 普通玻璃不导电,单晶硅片是半导体,ITO 导电玻璃

applications of transition metal containing mesoporous 由于表面镀了氧化铟锡薄膜,增加了其导电性能。

molecular sieves[J]. Angew Chem,2002,41:2::214-229. 2.3 介孔硅薄膜样品

[4] Deng Y H, Wei J, Zhao D Y, et al. Large-pore or- 图 4 :a:,图 4 :c: 分别是介孔硅薄膜在普通玻 dered mesoporous materials templated from non-Pluronic 璃、单晶硅片及 ITO 导电玻璃基底上的扫描电镜图。 amphiphilic block copolymers[J]. Chem Soc Rev,2013, 与图 3 不同的是,薄膜在以上基底上均未出现荷电 42:9::4054-4070. 现象,皆可获得清晰的电镜图片,这可能是由于薄膜 Yamada M, Kataoka S, et al. Direct observa- [5] Endo A, 本身较薄、很连续且平整,电荷不容易局部聚集,不 tion of surface structure of mesoporous silica with low 会产生明显的充放电。 acceleration voltage FE-SEM[J]. Colloids Surf,2010,357

考虑到单晶硅片脆、有取向性及易断裂,利于制 :1-3::11-16.

备截面样品,且与普通玻璃和 ITO 导电玻璃相比,单 [6] Che R C, Gu D, Zhao D Y, et al. Direct imaging of 晶硅片能耐更高的温度,因此制备介孔硅薄膜样品 the layer-by-layer growth and rod-unit repairing defects

of mesoporous silica SBA-15 by cryo-SEM[J]. J Mater 时,建议使用单晶硅片作为基底。

Chem,2011,21:43::17371-17381. 3 结束语

[7] Che S N, Lund K, Tatsumi T, et al. Direct observa- 经以上分析可知,对于导电性较差又不能喷镀的

tion of 3D mesoporous structure by scanning electron 介孔硅材料,样品制备方法对扫描电镜的图片有很 microscopy:SEM::SBA-15 silica and CMK-5 carbon[J]. 大的影响。 以下制样技巧可改善样品的导电性从而 Angew Chem,2003,42:19::2182-2185. 获得高质量的扫描电镜图片:1:对于粉末样品,可先 [8] Fang Y, Lv Y Y, Zhao D Y, et al. Two-dimensional 研磨降低其颗粒度,再将研磨好的样品薄薄地散落在 mesoporous carbon nanosheets and their derived 导电胶上,使样品与导电胶尽可能地充分接触;2:对 graphene nanosheets: synthesis and efficient lithium ion 于介孔硅球溶液样品,制备在铜网基底上效果最好, storage[J]. J Am Chem Soc,2013,135:4::1524-1530. 在普通玻璃上会存在一定的荷电现象;3:对于介孔 [9] 吴东晓,张大同,郭莉萍 , 等. 扫描电镜低电压条件下的 硅薄膜样品,由于其具有非常好的孔道结构及平整性, 应用[J]. 电子显微学报,2003,22:6::655-656.

[10] 曹惠. 导电性较差样品的扫描电镜优化观测条件[J]. 中国 在普通玻璃、单晶硅片及 ITO导电玻璃上,均可以获

测试,2014,40:3::19-22. 得清晰的电镜图片。 但单晶硅片能耐更高的温度,

[11] 周莹,王虎,吴伟,等. 二次电子探测器选择对 FESEM 图 且其脆性及取向性更利于截面样品的制备,因此在

像的影响[J]. 实验室研究与探索,2012,31:7::246-248. 制备介孔硅薄膜样品时,可使用单晶硅片作为基底。 [12] 李永良. 日立 S-4800 冷场发射扫描电镜的 BSE 功能[J]. 参考文献 中国现代教育装备,2007:10::13-15. [1] Taguchi A, Schuth F. Ordered mesoporous materials in [13] 唐 晓 山. 荷电效应对扫描电子显微镜图像的影响及其

catalysis[J]. Microporous Mesoporous Mater,2005,77:1:: 解决方法[J]. 湛江师范学院学报,2008,29:6::33-35.

1-45.

范文二：薄片鉴定与扫描电镜图片观察自我总结

薄片观察与地质运用

1、成分

① 沉积成分(碎屑石英、长石、岩屑、基质)及成分成熟度 ② 成岩成分(原生胶结物、次生矿物)

2、结构

① 沉积结构 (粒度、分选、磨圆、支撑)及结构成熟度 ② 成岩结构(压实、胶结、交代)

砂岩中的沉积成分

1、碎屑成分

● 主要碎屑:石英、钾长石、斜长石、岩屑

● 次要碎屑:云母、重矿物(电气石、帘石、角闪石、锆石 …… )

2、基质成分

● 陆源性基质:以粘土为主,包括细粉砂、铁质、有机质等杂质(杂 基)

● 自生性基质:方解石泥晶、白云石泥晶

砂岩的成分成熟度

绝对成熟度:单晶石英碎屑与其它碎屑的含量之比

相对成熟度:单晶石英碎屑与长石碎屑含量之比

单晶和多晶石英碎屑与长石含量碎屑之比 单晶石英碎屑与不稳定岩屑含量之比

粒度相等的两种砂岩才能比较它们成熟度的高低!

砂岩中的成岩成分

1、原生胶结物:它所占据的空间是被它首次占据的 常见的有:石英、方解石、铁质、海绿石、石膏、白云石等 较少见的有:玉髓、菱铁矿、重晶石、天青石、沸石等等 ◆ 原生胶结物重结晶的产物仍被看成是原生的

◆ 同一砂岩可以有一种或多种胶结物

2、次生矿物:交代碎屑、基质或原生胶结物形成的矿物 常见的有:方解石、白云石、石膏、菱铁矿等等

砂岩的成岩结构

1、压实性结构特征

① 碎屑颗粒变形:云母片弯曲、揉皱;泥质等岩屑压扁、内部呈流动状, 长石解理缝变宽、双晶错动 ……

②碎屑颗粒长轴定向排列(压实性定向)

③碎屑颗粒似镶嵌或机械性镶嵌

2、压溶性结构特征

刚性颗粒(如石英、长石)之间呈面接触、凸凹接触、缝合线接触

3、原生胶结性结构特征 -----胶结类型

基底式胶结 孔隙式胶结 接触式胶结 镶嵌式胶结

4、交代结构特征

砂岩命名

1、完整命名:

颜色 + 胶结物 + 粒度 + 碎屑成分 + 基质 + 砂岩

如:灰绿色钙质胶结细粒长石石英净砂岩(“ 胶结 ” 、 “ 净 ” 等可省略) 暗褐色铁质中粒长石岩屑净砂岩

灰白色粗粒长石杂砂岩

2、可按实际情况省略

如:灰绿色中粒砂岩

紫色砂岩

3、关于净砂岩和杂砂岩

石英

? 石英的主要光学性质

粒状,无色 , ,无解理,正低突起 ,干涉色多一级灰白, 常具有波形消 光,一轴晶 (+),,正延性 .

? 石英与长石类的区别

表面干净,无解理,无双晶,一轴晶 (+),,正延性 .

单偏光 正交偏光 正交偏光

石英镜下特征

长石类

1. 长石类型 :碱性长石 (正长石、微斜长石、条纹长石、 透长石 ) 和斜长石 (暂不分类 ).

2. 共同特征 :板状,无色,两组解理完全 (夹角近 90度 ) , 突起低 (±) ,干涉色一级灰 , ,轴晶 (+)。

3. 碱性长石 :负低突起 , ,其中正长石具有卡氏双晶,多 为平行消光 ; 。微斜长石具有格子双晶 ; 条纹长石具有 条纹结构;透长石与正长石区别在于产状。

4. 斜长石 :正低突起 (除钠长石外 ) ,聚片双晶 , ,斜消光。

5. 碱性长石与斜长石区别 :突起、双晶、消光类型。

条纹长石正交偏光镜下特征 透长石正交偏光镜下特征

微斜长石正交偏光镜下特征 正长石正交偏光镜下特征 碱性长石类镜下特征

微斜长石的格状双晶

云母类

? 云母类型:黑云母、白云母、金云母

? 共同特征:片状,一组极完全解理,平行消光。

? 黑云母:棕褐色,红褐色,多色性明显,2V角特别小 (假一轴晶)。

? 白云母:无色,闪突起明显, 2V角30°-50°左右。 ? 金云母:浅褐-浅黄白色,弱多色性,闪突起比较明显, 2V角比较小0°-20°。

黑云母单偏光镜下特征 黑云母正交单偏光镜下特征 白云母单偏光镜下特征 白云母正交单偏光镜下特征 云母类镜下特征

单偏光

0.5mm

正交偏光

钙质岩屑砂岩

返回

石英加大边被溶蚀

长石被溶蚀

单偏光

0.5mm

正交偏光

钙质长石石英砂岩

返回成分

返回结构

溶蚀

碎屑颗粒具蚕食 状边缘，为溶蚀的 结果 视域中呈现典型 的似镶嵌结构

单偏光

0.5mm

铁质石英砂岩

返回沉积 成岩成分 成岩结构

绿泥石长石石英砂岩

（绿泥石呈栉壳 状）

单偏光

0.5mm

返回

原生方解石胶结物

单偏光

0.1mm

正交偏光

次生菱铁矿胶结

（球粒状或菱面体状）

成岩成分 返回

成岩结构

长石交代边

单偏光

正交偏光

0.5mm

成岩成分 返回 成岩结构

长石交代边

斜长石被粘土交代

多晶石英

单偏光

0.5mm

正交偏光

长石杂砂岩

（压实较强，呈典型似镶嵌）

成岩成分

石英加大边 被粘土交代， 说明长石交代 边晚于石英加 大

成岩结构

返回

碳酸盐岩薄片观察

1、矿物成分鉴定较为次要

① 通常方解石、白云石的含量超过 95% ② 常见次要成分为陆源粉砂、自生SiO2等 ③ 准确区分方解石、白云石要用染色薄片

2、重点是鉴定结构 ▲沉积结构：

① 颗粒结构：内碎屑、生物碎屑、鲕粒、凝块石…… ② 泥晶结构（泥状结构）：泥晶方解石或白云石 ③ 粘结结构：生物骨架结构、藻粘结结构

▲成岩结构：

① 胶结方式：基底式、孔隙式、接触式、悬挂式 ② 胶结物结构：胶结物晶体形态、大小、排列；胶结物的世代性；渗滤粉砂 ③ 溶蚀和交代：最常见的是白云石化、硅化------可形成交代残余结构 ④ 压实 ⑤ 结晶结构：仿结晶岩处理

染色薄片

沉积结构

亮晶生屑 泥晶生屑 石膏假晶 螺壳 双壳 头足 粗枝藻 硅化腕足 海松藻 海松藻 珊瑚藻 珊瑚藻 亮晶砂屑 亮晶砂屑 核形石 残鲕

成岩结构

渗滤粉砂

白云环带

单偏光

0.5mm

硅化叠层

压碎鲕

返回

亮晶生屑结构

沉积结构

亮晶生屑 泥晶生屑 石膏假晶 螺壳 双壳 头足 粗枝藻 硅化腕足 海松藻 海松藻 珊瑚藻 珊瑚藻 亮晶砂屑 亮晶砂屑 核形石 残鲕

成岩结构

渗滤粉砂

白云环带

单偏光

0.5mm

硅化叠层

压碎鲕

返回要点

结束

范文三：粘土矿物扫描电镜描述(文字_图片)升级版(资料

一、扫描扫扫照片～粘土扫物的扫下特征及描述

1、高扫石

高扫石

硅扫酸扫扫物～是扫石的扫扫扫物～呈扫扫、、手扫琴～多以状蠕虫状状孔隙充填的形式存在于粒扫孔隙。其晶扫扫比扫松～在流的刷下容易流移扫～堵塞、分构体冲随体

割孔隙和吼道～尤其在扫小吼道中～影大～是重要的速敏扫物。响很

2、伊蒙混扫

伊蒙混扫

蒙石向伊利石扫渡的扫物～呈蜂扫、半蜂扫、棉絮等～埋深加大和脱状状状随

温扫的升高而含量增多～有扫强的水敏性。

3、扫泥石

扫泥石

扫硅酸扫扫物～常自生石英共生与。在扫扫扫描下～其扫晶形扫呈薄六角板或状叶片～ 常扫粒扫 状径2μ, 3μ;聚集形扫常常扫 :由片扫成的蜂扫 、 花扫叶状玫瑰状、

扫球、 扫和片～ 状叶状叠状在孔隙中的扫有状孔隙扫扫及孔隙充填～有扫也可扫其扫乱状堆扫扫 。一般扫扫泥石多扫孔隙扫扫包于扫粒表面～扫球和花的扫充叶状状玫瑰状填

在孔隙中。扫泥石可由黑云母、角扫石、蒙石等扫物扫化而～自生扫泥石一般富脱来

含高价扫子～扫井液中的离与HCL等酸液作用容易扫生淀～而造成扫扫扫害～是酸沉

敏性扫物。

4、伊利石

伊利石形:片状、羽毛状、状。分布:多分布于态态态态态态态态态态态态态态态态态态态态态态

粒表面,或以粘土形式分布于粒态态态态态态态态态

伊利石

扫硅酸扫扫物～伊利石晶呈不扫扫的扫片体状～ 扫呈六扫形 个～ 扫片大小不等 ～ 一般在 0.15μ, 0.5μ扫 。在扫扫扫描下常扫的扫形扫呈扫扫 、 片和羽毛体状条状状

等扫附于扫粒表面或充于粒扫孔隙填内～集合形扫呈蜂扫 、 扫扫和扫扫。伊利体状状状

石往往在孔隙中形成搭扫式生扫或成扫扫 、 扫扫扫 构状状网(扫 1～ 扫 2)。片等微状晶把孔隙分割成扫多小孔隙～增加了迂回度～扫扫的容易被水移～堵塞孔隙和状冲

吼道～降低孔隙度和渗透率。

5、蒙石脱

蒙脱石形:片状、蜂态态态态态态态态态态态态态态态态态态态态态态态态态态态态态状、棉絮状。分布:多分布于粒表面。分子式:巢

(ALMG)2[SI4O10](OH)24H2O态态态态态态态态态态态态态态态分布于埋藏浅、成岩作用弱的地中,随

加埋藏深、成岩作用加于消失,并伴随混物的出强态态态态态态态

扫1　片状、扫扫伊利石分布于粒扫孔中状

扫2　扫扫伊利石在孔隙形成的扫扫分布状内网状

6、扫石帘

扫石呈集合或粒扫出～石呈集合扫出～部分扫扫石伴生。帘体状榍体与帘

二、扫物扫特征状

1、孔隙扫扫式

扫扫扫指状粘土扫物在碎屑岩扫粒表面呈定向排列 ～ 扫成扫扫的扫付于孔隙壁上的薄膜。在扫下看～ 粘土扫物在扫粒表面排列具明扫的方向性～ 根据其排列方向与两扫粒表面扫角的扫系～ 可分扫扫:一扫是其排列扫粒表面近于平行 与;另一扫是垂直于扫粒表面向孔隙生扫～ 扫扫扫。内即壳状

在南充造扫家河扫砂岩扫扫中～ 具有此扫扫的代表性粘土扫物扫片扫泥石构状叶状。在扫扫扫描下～ 可以扫察到片扫泥石主要覆于扫粒表面～在粒扫孔隙扫扫形成孔隙扫叶状

扫;在偏光扫微扫下扫泥石常以扫粒的扫扫形式出扫。在扫扫扫描下扫量的扫扫扫果表明～扫扫厚度比扫扫定～一般4.01μm,12.8μm ～ 平均厚度扫 7.39μm～ 往往保留了扫粒扫一定量的孔隙空扫 (扫 3、 扫 4、 扫 7、扫 8)。

扫3　叶状片扫泥石在粒扫孔隙扫扫形成孔隙扫扫

扫4　扫泥石形成的孔隙扫扫堵塞孔喉

扫7　叶状片扫泥石在粒扫孔隙扫扫形成孔隙扫扫, 孔隙中央主要以伊利石充扫主填

扫8　伊利石充少的粒扫余孔隙扫好填残

2、孔隙充式填

孔隙充式是指填粘土扫物以分散扫点形式充于孔隙填内 。在扫下可以扫察到粘土扫物往往以集合形扫充于孔隙～ 按其充的程度可分扫完全充不体填内填填与

完全充 。在南充造扫家河扫砂岩扫扫中～ 具有此扫扫的扫扫常扫的粘土扫物扫伊利填构状

石扫泥石 与(扫 1、 扫 3)。、

3　搭扫式

搭扫式扫指状粘土扫物晶自孔隙壁向孔隙空扫生扫～ 在孔隙形成粘土体内并内

扫。具有此扫扫特征的最常扫的粘土扫物是伊利石～ 在扫下可以看到扫扫、 羽状状状

伊利石在孔隙形成的扫分布 。通扫扫扫扫描可以看到～ 在南充扫造扫家河扫扫扫内网状构

中 ～ 伊利石具有明扫的由孔隙扫扫向孔隙中央生扫的特征～ 有的已形成格或网状扫接型扫胶(扫 5、 扫 6)。

扫5　片状、扫扫伊利石分布于粒扫孔中状, 部分伊利石已形成“扫” 接, 粒扫孔喉已被全部充填, 扫余伊利石片扫孔隙残

扫6　片状、扫扫伊利石充粒扫状填, 伊利石具由孔隙扫扫向孔隙中央生扫的特征

或

扫扫描扫扫扫察～砂岩中的粘土扫物～主要扫于砂岩的粒扫孔和粒扫隙中～或粘糊在扫粒的表面～其存在形式有四扫:

1、分散状

如扫A～粘土扫物在砂岩孔隙中呈星散分布～未把孔隙充扫～扫 留下不少填的孔隙空扫。孔隙及喉道具有良好的扫集和渗扫作用。

2、扫状

如扫B～粘土扫物生扫在孔隙的壁上～是以隙之壁向孔隙生扫～未 把整内个孔隙民扫～扫剩有孔隙空扫及渗扫通道～孔隙及喉道仍具有一定的扫集性和渗扫性。

3、扫状

如扫 C～粘土扫物把砂岩孔隙充扫～基本上未剩下孔隙空扫～是剩下 少扫孔即隙～也是呈孤立存在～其扫集性及渗扫性差。状极

4、薄膜状

如 扫 D～粘土扫物呈一扫薄膜～包糊在砂岩扫粒表面～遮蔽了扫粒表面形扫。一般扫～粘土扫物在砂岩中呈薄膜～砂岩中仍有一定的粒扫孔存在～但渗透性来状

扫差。

川玄武岩晶洞中扫石的晶形貌成因初探滇帘体与

态态态泥石晶 态态态态态态态态态态态态态态态态态:叶状。聚合体:球状、玫瑰花状、

态片状。分子式:，MG5AL)(SI3AL)O10(OH)8 (态常)态态多出在2500M态以下,分布于粒表面,并常与石英共生。

次生石英晶:六方双体。聚合体:分子式:态态态态态态态态态态态态态态态态态SIO2态态态次生石英有着三育态段,反映了不同的形成温度和成岩期。

范文四：粘土矿物扫描电镜描述(文字_图片)升级版(

一、 扫描电镜照片,粘土矿物的镜下特征及描述 1、高岭石

高岭石

硅铝酸盐矿物,是长石的蚀变产物,呈书页状、蠕虫状、手风琴状,多以 孔 隙充填 的形式存在于粒间孔隙。 其晶间结构比较松, 在流体的冲刷下容易随流体

移动,堵塞、分割孔隙和吼道,尤其在细小吼道中,影响很大,是重要的速敏矿 物。

2、伊蒙混层

伊蒙混层

蒙脱石向伊利石过渡的矿物,呈蜂窝状、半蜂窝状、棉絮状等,随埋深加大 和温压的升高而含量增多,有较强的水敏性。

3、绿泥石

绿泥石

铝硅酸盐矿物, 常与自生石英共生。 在电镜扫描下, 其单晶形态呈薄六角板 状或叶片状, 常见粒径为 2μ~ 3μ; 聚集形态常常为 :由叶片组成的蜂窝状 、

玫瑰花朵状、 绒球状、 针叶状和叠片状, 在孔隙中的产状有 孔隙衬垫 及 孔隙 充填, 有时也可见其杂乱堆积状态 。一般针叶状绿泥石多为孔隙衬垫包于颗粒 表面,绒球状和玫瑰花状的则充填在孔隙中。绿泥石可由黑云母、角闪石、蒙脱 石等矿物转化而来,自生绿泥石一般富含高价铁离子,与钻井液中的 HCL 等酸 液作用容易产生沉淀,而造成储层伤害,是酸敏性矿物。

4、 伊利石

伊利石形态:鳞片状、羽毛状、丝缕状。分布:多分布于颗粒表面,或以粘土桥形式分布于 颗粒间

伊利石

铝硅酸盐矿物,伊利石晶体呈不规则的鳞片状, 个别呈六边形 , 鳞片大 小不等 , 一般在 0.15μ~ 0.5μ间 。在电镜扫描下常见的单体形态呈丝带 状 、 条片状和羽毛状等贴附于颗粒表面或充填于粒间孔隙内, 集合体形态呈蜂 窝状 、 丝缕状和丝带状。 伊利石往往在孔隙中形成搭桥式生长或构成丝缕状 、 发丝状网络 (图 1, 图 2)。 片状等微晶把孔隙分割成许多小孔隙, 增加了迂回 度;丝发状的容易被水冲移,堵塞孔隙和吼道,降低孔隙度和渗透率。

5、蒙脱石

蒙脱石形态:鳞片状、蜂巢状、棉絮状。分布:多分布于颗粒表面。分子式:

(AlMg)2[Si4O10](OH)24H2O分布于埋藏较浅、成岩作用较弱的地层中,随加埋藏深、成岩 作用加强趋于消失,并伴随混层矿物的出现

图 1 片状 、 丝缕状伊利石分布于粒间孔中

图 2 丝缕状伊利石在孔隙内形成的网络状分布

6、绿帘石

绿帘石呈集合体或粒状产出,榍石呈集合体产出,部分与绿帘石伴生。 二、矿物产状特征

1、孔隙衬垫式

这种产状指 粘土矿物在碎屑岩颗粒表面呈定向排列 , 组成连续的贴付于孔 隙壁上的薄膜 。 在镜下看, 粘土矿物在颗粒表面排列具明显的方向性, 根据其 排列方向与颗粒表面夹角的关系, 可分为两种 :一种是其排列与颗粒表面近于平 行 ; 另一种是垂直于颗粒表面向孔隙内生长, 即栉壳状。

在南充构造须家河组砂岩储层中, 具有此类产状的代表性粘土矿物为叶片 状绿泥石。在电镜扫描下, 可以观察到叶片状绿泥石主要覆于颗粒表面,在粒 间孔隙边缘形成孔隙衬边 ; 在偏光显微镜下绿泥石常以颗粒的环边形式出现。在 电镜扫描下测量的统计结果表明, 环边厚度比较稳定, 一般 4.01μm ~12.8μm , 平均厚度为 7.39μm , 往往保留了颗粒间一定量的孔隙空间 (图 3、 图 4、 图 7、图 8) 。

图 3 叶片状绿泥石在粒间孔隙边缘形成孔隙衬边

图 4 绿泥石形成的孔隙衬垫堵塞孔喉

图 7 叶片状绿泥石在粒间孔隙边缘形成孔隙衬边 , 孔

隙中央主要以伊利石充填为主

图 8 伊利石充填少的粒间残余孔隙较好

2、孔隙填充式

孔隙充填式是指 粘土矿物以分散质点形式充填于孔隙内 。在镜下可以观察

到粘土矿物往往以集合体形态充填于孔隙内, 按其充填的程度可分为完全充填 与不完全充填 。 在南充构造须家河组砂岩储层中, 具有此类产状的较为常见的 粘土矿物为伊利石与绿泥石 (图 1、 图 3) 。、

3搭桥式

搭桥式产状指 粘土矿物晶体自孔隙壁向孔隙空间内生长, 并在孔隙内形成 粘土桥 。具有此类产状特征的最常见的粘土矿物是伊利石, 在镜下可以看到丝 缕状、 羽状伊利石在孔隙内形成的网络状分布 。通过电镜扫描可以看到, 在 南充构造须家河组储层中 , 伊利石具有明显的由孔隙边缘向孔隙中央生长的特 征, 有的已形成网格状或桥接型胶结 (图 5、 图 6) 。

图 5 片状 、 丝缕状伊利石分布于粒间孔中 , 部分伊利石已

形成 “ 桥 ” 接 , 粒间孔喉已被全部充填 , 仅残余伊利石片 间孔隙

图 6 片状 、 丝缕状伊利石充填粒间 , 伊利石具由孔隙 边缘向孔隙中央生长的特征

或

经扫描电镜观察,砂岩中的粘土矿物,主要见于砂岩的粒间孔和粒间隙中, 或粘糊在颗粒的表面,其存在形式有四种 :

1、分散状

如图 A ,粘土矿物在砂岩孔隙中呈星散分布,未把孔隙充填满,还 留下不 少的孔隙空间。孔隙及喉道具有良好的储集和渗滤作用。

2、线状

如图 B ,粘土矿物生长在孔隙的壁上,是以隙之壁向孔隙内生长,未 把整 个孔隙民满, 还剩有孔隙空间及渗滤通道, 孔隙及喉道仍具有一定的储集性和渗 滤性。

3、桥状

如图 C ,粘土矿物把砂岩孔隙充满,基本上未剩下孔隙空间,即是剩下 少 许孔隙,也是呈孤立状存在,其储集性及渗滤性极差。

4、薄膜状

如 图 D ,粘土矿物呈一层薄膜,包糊在砂岩颗粒表面,遮蔽了颗粒表面形 态。一般来讲,粘土矿物在砂岩中呈薄膜状,砂岩中仍有一定的粒间孔存在,但 渗透性较差。

川滇玄武岩晶洞中绿帘石的晶体形貌与成因初探

绿 泥 石 单 晶 :针 叶 状 。 聚 合 体 :绒 球 状 、 玫 瑰 花 朵 状 、 鳞 片 状 。 分 子 式 : (Mg5Al)(Si3Al)O10(OH)8 (常见 ) 多出现在 2500m 以下,分布于颗粒表面,并常与石英共 生。

次生石英单晶:六方双锥体。聚合体:分子式:SiO2次生石英有着三级发育阶段,反 映了不同的形成温度和成岩期。

范文五：粘土矿物扫描电镜描述(文字,图片)

扫描电镜照片,粘土矿物的镜下特征及描述

高岭石

高岭石

硅铝酸盐矿物，是长石的蚀变产物，呈书页状、蠕虫状、手风琴状，多以孔隙充填的形式存在于粒间孔隙。其晶间结构比较松，在流体的冲刷下容易随流体移动，堵塞、分割孔隙和吼道，尤其在细小吼道中，影响很大，是重要的速敏矿物。

伊蒙混层

伊蒙混层

蒙脱石向伊利石过渡的矿物，呈蜂窝状、半蜂窝状、棉絮状等，随埋深加大和温压的升

高而含量增多，有较强的水敏性。

绿泥石

绿泥石

铝硅酸盐矿物，常与自生石英共生，呈针叶状、绒球状、玫瑰花状，在孔隙中的产状有孔隙衬垫及孔隙充填。一般针叶状绿泥石多为孔隙衬垫包于颗粒表面，绒球状和玫瑰花状的则充填在孔隙中。绿泥石可由黑云母、角闪石、蒙脱石等矿物转化而来，自生绿泥石一般富含高价铁离子，与钻井液中的HCL等酸液作用容易产生沉淀，而造成储层伤害，是酸敏性矿物。

伊利石

伊利石

铝硅酸盐矿物，呈叶片状、丝发状等贴附于颗粒表面或充填于粒间孔隙内。片状等微晶把孔隙分割成许多小孔隙，增加了迂回度;丝发状的容易被水冲移，堵塞孔隙和吼道，降低孔隙度和渗透率。

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