范文一:mos管驱动电路
1234
10-20
DDD3
D424V10-20Diode 1N4148
VT75819R5R7VT5IRF540NSIRF540NS2020
U427U51.5UFC5INHO38M272C7SDVBHOIN1683VCCVSVBSDM4561COMLOVSVCCC61.5UFMotor54CCLOCOMC8IR2104SCapIR2104SVT8R6R8VT6IRF540NSIRF540NS2020
BB
U6D121113
U6AMC74HC00AD132U6CIN39MC74HC00ADIN48EN210U6B4MC74HC00AD65AAMC74HC00AD
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1234
DD
+24V
C13C14U1
220u1u11
76BOT2
GNDVSLPWM5CCPWMC1110
OUT210nLIN1
9
FOUT
LBRK4
BREAR18
SOUT
4.7K
2LIN2
OUT1BB3
DIRC121
BOT110n
LM18200
AA
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范文二:IR2104 mos管驱动
Data Sheet No. PD60046-S
Typical Connection
Product Summary
HALF-BRIDGE DRIVER
Features
?Fully operational to +600V
dV/dt immune
??Undervoltage lockout
???Internally set deadtime
????Also available LEAD-FREE
Description
operates from 10 to 600 volts.
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2
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Absolute Maximum Ratings
Absolute maximum ratings indicate sustained limits beyond which damage to the device may occur. All voltageparameters are absolute voltages referenced to COM. The thermal resistance and power dissipation ratings aremeasured under board mounted and still air conditions.
Note 1: Logic operational for VS of -5 to +600V. Logic state held for VS of -5V to -VBS . (Please refer to the Design TipDT97-3 for more details).
Recommended Operating Conditions
The Input/Output logic timing diagram is shown in Figure 1. For proper operation the device should be used within therecommended conditions. The VS offset rating is tested with all supplies biased at 15V differential.
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Dynamic Electrical Characteristics
V BIAS (VCC , VBS ) = 15V, CL = 1000 pF and TA = 25°C unless otherwise specified.
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Functional Block Diagram
Lead Definitions
Symbol Description
IN
Logic input for high and low side gate driver outputs (HO and LO), in phase with HOLogic input for shutdownV B
High side floating supplyHO High side gate drive outputV S High side floating supply returnV CC Low side and logic fixed supplyLO Low side gate drive outputCOM
Low side return
SD
Lead Assignments
8 Lead PDIP8 Lead SOIC
IR2104
IR2104S
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8
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V CC IN SD COM
V B HO V S LO
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V CC IN SD COM
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www.irf.com Figure 5. Delay Matching Waveform Definitions
Figure 4. Deadtime Waveform Definitions
Figure 3. Shutdown Waveform Definitions
Figure 1. Input/Output Timing Diagram
SD
Figure 2. Switching Time Waveform Definitions
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Basic Part (Non-Lead Free)
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8-Lead PDIP IR2104 order IR2104PbF8-Lead SOIC IR2104S order IR2104SPbF
IR WORLD HEADQUARTERS: 233 Kansas St., El Segundo, California 90245 Tel: (310) 252-7105
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范文三:mos驱动+自举
MOS 管驱动电路综述
2008-12-25 15:15
在使用 MOS 管设计开关电源或者马达驱动电路的时候,大部分人都会考虑 MOS 的导通电阻,最 大电压等,最大电流等,也有很多人仅仅考虑这些因素。这样的电路也许是可以工作的,但并不 是优秀的,作为正式的产品设计也是不允许的。
下面是我对 MOSFET 及 MOSFET 驱动电路基础的一点总结 , 其中参考了一些资料 , 非全部原创 。 包括 MOS 管的介绍,特性,驱动以及应用电路。
1, MOS 管种类和结构
MOSFET 管是 FET 的一种(另一种是 JFET ),可以被制造成增强型或耗尽型, P 沟道或 N 沟道 共 4种类型,但实际应用的只有增强型的 N 沟道 MOS 管和增强型的 P 沟道 MOS 管,所以通常提 到 NMOS ,或者 PMOS 指的就是这两种。
至于为什么不使用耗尽型的 MOS 管,不建议刨根问底。
对于这两种增强型 MOS 管,比较常用的是 NMOS 。原因是导通电阻小,且容易制造。所以开关 电源和马达驱动的应用中,一般都用 NMOS 。下面的介绍中,也多以 NMOS 为主。
MOS 管的三个管脚之间有寄生电容存在,这不是我们需要的,而是由于制造工艺限制产生的。 寄生电容的存在使得在设计或选择驱动电路的时候要麻烦一些,但没有办法避免,后边再详细介 绍。
在 MOS 管原理图上可以看到,漏极和源极之间有一个寄生二极管。这个叫体二极管,在驱动感 性负载(如马达),这个二极管很重要。顺便说一句,体二极管只在单个的 MOS 管中存在,在 集成电路芯片内部通常是没有的。
2, MOS 管导通特性
导通的意思是作为开关,相当于开关闭合。
NMOS 的特性, Vgs 大于一定的值就会导通,适合用于源极接地时的情况(低端驱动),只要栅 极电压达到 4V 或 10V 就可以了。
PMOS 的特性, Vgs 小于一定的值就会导通,适合用于源极接 VCC 时的情况(高端驱动)。但 是,虽然 PMOS 可以很方便地用作高端驱动,但由于导通电阻大,价格贵,替换种类少等原因, 在高端驱动中,通常还是使用 NMOS 。
3, MOS 开关管损失
不管是 NMOS 还是 PMOS ,导通后都有导通电阻存在,这样电流就会在这个电阻上消耗能量, 这部分消耗的能量叫做导通损耗 。 选择导通电阻小的 MOS 管会减小导通损耗 。 现在的小功率 MOS 管导通电阻一般在几十毫欧左右,几毫欧的也有。
MOS 在导通和截止的时候,一定不是在瞬间完成的。 MOS 两端的电压有一个下降的过程,流过 的电流有一个上升的过程,在这段时间内, MOS 管的损失是电压和电流的乘积,叫做开关损失。 通常开关损失比导通损失大得多,而且开关频率越快,损失也越大。
导通瞬间电压和电流的乘积很大,造成的损失也就很大。缩短开关时间,可以减小每次导通时 的损失;降低开关频率,可以减小单位时间内的开关次数。这两种办法都可以减小开关损失。
4, MOS 管驱动
跟双极性晶体管相比,一般认为使 MOS 管导通不需要电流,只要 GS 电压高于一定的值,就可 以了。这个很容易做到,但是,我们还需要速度。
在 MOS 管的结构中可以看到,在 GS , GD 之间存在寄生电容,而 MOS 管的驱动,实际上就是 对电容的充放电。对电容的充电需要一个电流,因为对电容充电瞬间可以把电容看成短路,所以 瞬间电流会比较大。选择 /设计 MOS 管驱动时第一要注意的是可提供瞬间短路电流的大小。 第二注意的是,普遍用于高端驱动的 NMOS ,导通时需要是栅极电压大于源极电压。而高端驱 动的 MOS 管导通时源极电压与漏极电压 (VCC ) 相同 , 所以这时栅极电压要比 VCC 大 4V 或 10V 。 如果在同一个系统里,要得到比 VCC 大的电压,就要专门的升压电路了。很多马达驱动器都集 成了电荷泵,要注意的是应该选择合适的外接电容,以得到足够的短路电流去驱动 MOS 管。
上边说的 4V 或 10V 是常用的 MOS 管的导通电压,设计时当然需要有一定的余量。而且电压越 高,导通速度越快,导通电阻也越小。现在也有导通电压更小的 MOS 管用在不同的领域里,但 在 12V 汽车电子系统里,一般 4V 导通就够用了。
MOS 管的驱动电路及其损失,可以参考 Microchip 公司的 AN799 Matching MOSFET Drivers to MOSFETs 。讲述得很详细,所以不打算多写了。
5, MOS 管应用电路
MOS 管最显著的特性是开关特性好,所以被广泛应用在需要电子开关的电路中,常见的如开关 电源和马达驱动,也有照明调光。
现在的 MOS 驱动,有几个特别的需求,
1,低压应用
当使用 5V 电源,这时候如果使用传统的图腾柱结构,由于三极管的 be 有 0.7V 左右的压降,导 致实际最终加在 gate 上的电压只有 4.3V 。这时候,我们选用标称 gate 电压 4.5V 的 MOS 管就存在 一定的风险。
同样的问题也发生在使用 3V 或者其他低压电源的场合。
2,宽电压应用
输入电压并不是一个固定值,它会随着时间或者其他因素而变动。这个变动导致 PWM 电路提供 给 MOS 管的驱动电压是不稳定的。
为了让 MOS 管在高 gate 电压下安全,很多 MOS 管内置了稳压管强行限制 gate 电压的幅值。在这 种情况下,当提供的驱动电压超过稳压管的电压,就会引起较大的静态功耗。
同时,如果简单的用电阻分压的原理降低 gate 电压,就会出现输入电压比较高的时候, MOS 管 工作良好,而输入电压降低的时候 gate 电压不足,引起导通不够彻底,从而增加功耗。
3,双电压应用
在一些控制电路中,逻辑部分使用典型的 5V 或者 3.3V 数字电压,而功率部分使用 12V 甚至更高 的电压。两个电压采用共地方式连接。
这就提出一个要求,需要使用一个电路,让低压侧能够有效的控制高压侧的 MOS 管,同时高压 侧的 MOS 管也同样会面对 1和 2中提到的问题。
在这三种情况下,图腾柱结构无法满足输出要求,而很多现成的 MOS 驱动 IC ,似乎也没有包含 gate 电压限制的结构。
于是我设计了一个相对通用的电路来满足这三种需求。
电路图如下:
图 1 用于 NMOS 的驱动电路
图 2 用于 PMOS 的驱动电路
这里我只针对 NMOS 驱动电路做一个简单分析:
Vl 和 Vh 分别是低端和高端的电源,两个电压可以是相同的,但是 Vl 不应该超过 Vh 。
Q1和 Q2组成了一个反置的图腾柱,用来实现隔离,同时确保两只驱动管 Q3和 Q4不会同时导 通。
R2和 R3提供了 PWM 电压基准,通过改变这个基准,可以让电路工作在 PWM 信号波形比较陡 直的位置。
Q3和 Q4用来提供驱动电流,由于导通的时候, Q3和 Q4相对 Vh 和 GND 最低都只有一个 Vce 的压降,这个压降通常只有 0.3V 左右,大大低于 0.7V 的 Vce 。
R5和 R6是反馈电阻,用于对 gate 电压进行采样,采样后的电压通过 Q5对 Q1和 Q2的基极产生 一个强烈的负反馈 , 从而把 gate 电压限制在一个有限的数值 。 这个数值可以通过 R5和 R6来调节 。
最后, R1提供了对 Q3和 Q4的基极电流限制, R4提供了对 MOS 管的 gate 电流限制,也就是 Q3和 Q4的 Ice 的限制。必要的时候可以在 R4上面并联加速电容。
这个电路提供了如下的特性:
1,用低端电压和 PWM 驱动高端 MOS 管。
2,用小幅度的 PWM 信号驱动高 gate 电压需求的 MOS 管。
3, gate 电压的峰值限制
4,输入和输出的电流限制
5,通过使用合适的电阻,可以达到很低的功耗。
6, PWM 信号反相。 NMOS 并不需要这个特性,可以通过前置一个反相器来解决。
在设计便携式设备和无线产品时,提高产品性能、延长电池工作时间是设计人员需要面对的两个 问题。 DC-DC 转换器具有效率高、输出电流大、静态电流小等优点,非常适用于为便携式设备供 电。目前 DC-DC 转换器设计技术发展主要趋势有:(1)高频化技术:随着开关频率的提高,开 关变换器的体积也随之减小,功率密度也得到大幅提升,动态响应得到改善。小功率 DC-DC 转 换器的开关频率将上升到兆赫级。(2)低输出电压技术:随着半导体制造技术的不断发展,微 处理器和便携式电子设备的工作电压越来越低,这就要求未来的 DC-DC 变换器能够提供低输出 电压以适应微处理器和便携式电子设备的要求。
这些技术的发展对电源芯片电路的设计提出了更高的要求。首先,随着开关频率的不断提高,对 于开关元件的性能提出了很高的要求,同时必须具有相应的开关元件驱动电路以保证开关元件在 高达兆赫级的开关频率下正常工作。其次,对于电池供电的便携式电子设备来说,电路的工作电 压低(以锂电池为例,工作电压 2.5~3.6V ),因此,电源芯片的工作电压较低。
MOS 管具有很低的导通电阻,消耗能量较低,在目前流行的高效 DC -DC 芯片中多采用 MOS 管 作为功率开关。但是由于 MOS 管的寄生电容大,一般情况下 NMOS 开关管的栅极电容高达几十 皮法。这对于设计高工作频率 DC -DC 转换器开关管驱动电路的设计提出了更高的要求。
在低电压 ULSI 设计中有多种 CMOS 、 BiCMOS 采用自举升压结构的逻辑电路和作为大容性负载的 驱动电路。这些电路能够在低于 1V 电压供电条件下正常工作,并且能够在负载电容 1~2pF 的条 件下工作频率能够达到几十兆甚至上百兆赫兹。本文正是采用了自举升压电路,设计了一种具有 大负载电容驱动能力的,适合于低电压、高开关频率升压型 DC -DC 转换器的驱动电路。电路基 于 Samsung AHP615 BiCMOS工艺设计并经过 Hspice 仿真验证 , 在供电电压 1.5V , 负载电容为 60pF 时,工作频率能够达到 5MHz 以上。
自举升压电路
自举升压电路的原理图如图 1所示。所谓的自举升压原理就是,在输入端 IN 输入一个方波信号, 利用电容 Cboot 将 A 点电压抬升至高于 VDD 的电平,这样就可以在 B 端输出一个与输入信号反 相,且高电平高于 VDD 的方波信号。具体工作原理如下。
当 VIN 为高电平时, NMOS 管 N1导通, PMOS 管 P1截止, C 点电位为低电平。同时 N2导通, P2的栅极电位为低电平,则 P2导通。这就使得此时 A 点电位约为 VDD ,电容 Cboot 两端电压 UC ≈ VDD 。由于 N3导通, P4截止,所以 B 点的电位为低电平。这段时间称为预充电周期。
当 VIN 变为低电平时, NMOS 管 N1截止, PMOS 管 P1导通, C 点电位为高电平,约为 VDD 。同 时 N2、 N3截止, P3导通。这使得 P2的栅极电位升高, P2截止。此时 A 点电位等于 C 点电位加 上电容 Cboot 两端电压,约为 2VDD 。而且 P4导通,因此 B 点输出高电平,且高于 VDD 。这段 时间称为自举升压周期。
实际上, B 点电位与负载电容和电容 Cboot 的大小有关,可以根据设计需要调整。具体关系将在 介绍电路具体设计时详细讨论。在图 2中给出了输入端 IN 电位与 A 、 B 两点电位关系的示意图。
驱动电路结构
图 3中给出了驱动电路的电路图。驱动电路采用 Totem 输出结构设计,上拉驱动管为 NMOS 管 N4、晶体管 Q1和 PMOS 管 P5。下拉驱动管为 NMOS 管 N5。图中 CL 为负载电容, Cpar 为 B 点 的寄生电容。虚线框内的电路为自举升压电路。
本驱动电路的设计思想是,利用自举升压结构将上拉驱动管 N4的栅极(B 点)电位抬升,使得 UB>VDD+VTH ,则 NMOS 管 N4工作在线性区,使得 VDSN4 大大减小,最终可以实现驱动输 出高电平达到 VDD 。而在输出低电平时,下拉驱动管本身就工作在线性区,可以保证输出低电平 位 GND 。因此无需增加自举电路也能达到设计要求。
考虑到此驱动电路应用于升压型 DC -DC 转换器的开关管驱动,负载电容 CL 很大,一般能达到 几十皮法,还需要进一步增加输出电流能力,因此增加了晶体管 Q1作为上拉驱动管。这样在输 入端由高电平变为低电平时, Q1导通,由 N4、 Q1同时提供电流, OUT 端电位迅速上升,当 OUT 端电位上升到 VDD -VBE 时, Q1截止, N4继续提供电流对负载电容充电,直到 OUT 端电压达 到 VDD 。
在 OUT 端为高电平期间, A 点电位会由于电容 Cboot 上的电荷泄漏等原因而下降。这会使得 B 点电位下降, N4的导通性下降。同时由于同样的原因, OUT 端电位也会有所下降,使输出高电 平不能保持在 VDD 。为了防止这种现象的出现,又增加了 PMOS 管 P5作为上拉驱动管,用来补 充 OUT 端 CL 的泄漏电荷,维持 OUT 端在整个导通周期内为高电平。
驱动电路的传输特性瞬态响应在图 4中给出。其中(a )为上升沿瞬态响应,(b )为下降沿瞬态 响应。从图 4中可以看出,驱动电路上升沿明显分为了三个部分,分别对应三个上拉驱动管起主 导作用的时期。 1阶段为 Q1、 N4共同作用,输出电压迅速抬升, 2阶段为 N4起主导作,使输出 电平达到 VDD , 3阶段为 P5起主导作用,维持输出高电平为 VDD 。而且还可以缩短上升时间, 下降时间满足工作频率在兆赫兹级以上的要求。
需要注意的问题及仿真结果
电容 Cboot 的大小的确定
Cboot 的最小值可以按照以下方法确定。在预充电周期内,电容 Cboot 上的电荷为 VDDCboot 。 在 A 点的寄生电容(计为 CA )上的电荷为 VDDCA 。因此在预充电周期内, A 点的总电荷为
Q_{A1}=V_{DD}C_{boot}+V_{DD}C_{A} (1)
B 点电位为 GND ,因此在 B 点的寄生电容 Cpar 上的电荷为 0。
在自举升压周期,为了使 OUT 端电压达到 VDD , B 点电位最低为 VB =VDD+Vthn。因此在 B 点 的寄生电容 Cpar 上的电荷为
Q_{B}=(V_{DD}+V_{thn})Cpar (2)
忽略 MOS 管 P4源漏两端压降,此时 Cboot 上的电荷为 VthnCboot , A 点寄生电容 CA 的电荷为 (VDD+Vthn) CA 。 A 点的总电荷为
QA2=V_{thn}C_{BOOT}+(V_{DD}+V_{thn})C_{A} (3)
同时根据电荷守恒又有
Q_{B}=Q_{A}-Q_{A2} (4)
综合式(1)~(4)可得
C_{boot}=\frac{V_{DD}+V_{thn}}{v_{DD}-v_{thn}}Cpar+\frac{v_{thn}}{v_{DD}-v_{thn}}C_{A}=\fra c{V_{B}}{v_{DD}-v_{thn}}Cpar+\frac{V_{thn}}{v_{DD}-v_{thn}}C_{A} (5)
从式(5)中可以看出, Cboot 随输入电压变小而变大,并且随 B 点电压 VB 变大而变大。而 B 点 电压直接影响 N4的导通电阻,也就影响驱动电路的上升时间。因此在实际设计时, Cboot 的取值 要大于式(5)的计算结果,这样可以提高 B 点电压,降低 N4导通电阻,减小驱动电路的上升时 间。
P2、 P4的尺寸问题
将公式(5)重新整理后得:
V_{B}=({V_{DD}-V_{thn})\frac{C_{boot}}{Cpar}-V_{thn}\frac{C_{A}}{Cpar} (6)
从式(6)中可以看出在自举升压周期内, A 、 B 两点的寄生电容使得 B 点电位降低。在实际设 计时为了得到合适的 B 点电位,除了增加 Cboot 大小外,要尽量减小 A 、 B 两点的寄生电容。 在
设计时,预充电 PMOS 管 P2的尺寸尽可能的取小,以减小寄生电容 CA 。而对于 B 点的寄生电容 Cpar 来说,主要是上拉驱动管 N4的栅极寄生电容, MOS 管 P4、 N3的源漏极寄生电容只占一小 部分。我们在前面的分析中忽略了 P4的源漏电压,因此设计时就要尽量的加大 P4的宽长比,使 其在自举升压周期内的源漏电压很小可以忽略。但是 P4的尺寸以不能太大,要保证 P4的源极寄 生电容远远小于上拉驱动管 N4的栅极寄生电容。
阱电位问题
如图 3所示, PMOS 器件 P2、 P3、 P4的 N-well 连接到了自举升压节点 A 上。这样做的目的是, 在自举升压周期内,防止他们的源 /漏 --阱结导通。而且这还可以防止在源 /漏 --阱正偏时产生由寄 生 SRC 引起的闩锁现象。
上拉驱动管 N4的阱偏置电位要接到它的源极,最好不要直接接地。这样做的目的是消除衬底偏 置效应对 N4的影响。
Hspice 仿真验证结果
驱动电路基于 Samsung AHP615 BiCMOS工艺设计并经过 Hspice 仿真验证。在表 1中给出了电路 在不同工作电压、不同负载条件下的上升时间 tr 和下降时间 tf 的仿真结果。在图 5中给了电路 工作在输入电压 1.5V 、工作频率为 5MHz 、负载电容 60pF 条件下的输出波形。
结合表 1和图 5可以看出,此驱动电路能够在工作电压为 1.5V ,工作频率为 5MHz ,并且负载电 容高达 60pF 的条件下正常工作。它可以应用于低电压、高工作频率的 DC -DC 转换器中作为开 关管的驱动电路。
结论
本文采用自举升压电路 , 设计了一种 BiCMOS Totem结构的驱动电路 。 该电路基于 Samsung AHP615 BiCMOS 工艺设计,可在 1.5V 电压供电条件下正常工作,而且在负载电容为 60pF 的条件下,工 作频率可达 5MHz 以上
现在的 MOS 驱动,有几个特别的需求,
1,低压应用
当使用 5V 电源,这时候如果使用传统的图腾柱结构,由于三极管的 be 有 0.7V 左右的压降,导致实
际最终加在 gate 上的电压只有 4.3V 。这时候,我们选用标称 gate 电压 4.5V 的 MOS 管就存在一定 的风险。
同样的问题也发生在使用 3V 或者其他低压电源的场合。
2,宽电压应用
输入电压并不是一个固定值,它会随着时间或者其他因素而变动。这个变动导致 PWM 电路提供给 MOS 管的驱动电压是不稳定的。
为了让 MOS 管在高 gate 电压下安全,很多 MOS 管内置了稳压管强行限制 gate 电压的幅值。在这 种情况下,当提供的驱动电压超过稳压管的电压,就会引起较大的静态功耗。
同时,如果简单的用电阻分压的原理降低 gate 电压,就会出现输入电压比较高的时候, MOS 管工作 良好,而输入电压降低的时候 gate 电压不足,引起导通不够彻底,从而增加功耗。
3,双电压应用
在一些控制电路中,逻辑部分使用典型的 5V 或者 3.3V 数字电压,而功率部分使用 12V 甚至更高的 电压。两个电压采用共地方式连接。
这就提出一个要求,需要使用一个电路,让低压侧能够有效的控制高压侧的 MOS 管,同时高压侧的 MOS 管也同样会面对 1和 2中提到的问题。
在这三种情况下,图腾柱结构无法满足输出要求 ,而很多现成的 MOS 驱动 IC ,似乎也没有包含 gate 电压限制的结构。
于是我设计了一个相对通用的电路来满足这三种需求。
电路图如下:
图 1 用于 NMOS 的驱动电路
图 2 用于 PMOS 的驱动电路
这里我只针对 NMOS 驱动电路做一个简单分析:
Vl 和 Vh 分别是低端和高端的电源,两个电压可以是相同的,但是 Vl 不应该超过 Vh 。
Q1和 Q2组成了一个反置的图腾柱,用来实现隔离,同时确保两只驱动管 Q3和 Q4不会同时导通。
R2和 R3提供了 PWM 电压基准,通过改变这个基准,可以让电路工作在 PWM 信号波形比较陡直 的位置。
Q3和 Q4用来提供驱动电流,由于导通的时候, Q3和 Q4相对 Vh 和 GND 最低都只有一个 Vce 的 压降,这个压降通常只有 0.3V 左右,大大低于 0.7V 的 Vce 。
R5和 R6是反馈电阻,用于对 gate 电压进行采样,采样后的电压通过 Q5对 Q1和 Q2的基极产生 一个强烈的负反馈,从而把 gate 电压限制在一个有限的数值。这个数值可以通过 R5和 R6来调节。
最后, R1提供了对 Q3和 Q4的基极电流限制, R4提供了对 MOS 管的 gate 电流限制,也就是 Q3和 Q4的 Ice 的限制。必要的时候可以在 R4上面并联加速电容。
这个电路提供了如下的特性:
1,用低端电压和 PWM 驱动高端 MOS 管。
2,用小幅度的 PWM 信号驱动高 gate 电压需求的 MOS 管。
3, gate 电压的峰值限制
4,输入和输出的电流限制
5,通过使用合适的电阻,可以达到很低的功耗。
6, PWM 信号反相。 NMOS 并不需要这个特性,可以通过前置一个反相器来解决。
范文四:mos驱动元件
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范文五:IGBT、mos驱动的计算
IGBT 、 Mos 管栅极驱动电阻的作用:
1、消除栅极振荡
绝缘栅器件 (IGBT、 MOSFET) 的栅射(或栅源)极之间是容性结构,栅极回路的寄生电 感又是不可避免的, 如果没有栅极电阻, 那栅极回路在驱动器驱动脉冲的激励下要产生很强 的振荡,因此必须 串联一个电阻加以迅速衰减 。
2、转移驱动器的功率损耗
电容电感都是无功元件, 如果没有栅极电阻, 驱动功率就将绝大部分消耗在驱动器内部 的输出管上,使其温度上升很多。
3、调节功率开关器件的通断速度
栅极电阻小,开关器件通断快,开关损耗小;反之则慢,同时开关损耗大。但驱动速度 过快将使开关器件的电压和电流变化率大大提高, 从而产生较大的干扰, 严重的将使整个装 置无法工作,因此必须统筹兼顾。
栅极驱动电阻影响的 IGBT 参数:
1、开通时间 (影响 ,电阻太小则 过大,干扰大;电阻太大则 IGBT 的开通时 间过长,损耗大 ) ;
2、开通延迟;
3、关断时间 (影响 ,电阻太小 过大,损耗增加 )
4、关断延迟。
IGBT 门极驱动器设计步骤:
1、确定 IGBT 的门极电荷和门极电容
★门极电荷 Q=?idt =C*U ?
★ in C =U
Q ?等效输入电容 实际的输入结电容 in C 在设计中是具有很大意义的。但在 IGBT 手册中的电容值 iss C , 在实际电路应用中不是一个特别有用的参数, 因为它是通过电桥测得的, 由于测量电压太小 而不能达到门极门槛电压,在实际开关中增加的内部回馈效应 (Miller效应 ) 在测量中未被包 括在内。因此, iss C 仅仅只能在 IGBT 相互比较时使用。一般 in C 的值可以使用下面的经验 公式获得,即 in C =5iss C
★门极输入电容容值 in C =5iss C
2、计算驱动功率
★门极输入电容 in C 中储存的能量:W =2
U C in ??? ★ IGBT 在开关频率为 f 的条件下的驱动功率为:2**U C f P in ?=
★或者,在门极电荷给定的条件下表述为:U Q f P D ?=**
★除此之外,还需要考虑驱动器本身的静态损耗:Static P
★因此 IGBT 的驱动功率为:P =D P +Static P
3、计算 IGBT 的门极电流
★驱动器输出电流不小于门极电流:out I ≥ (max G I =
min
G R U ?) ★ min G R 为所有门极电阻之和的最小值
4、根据以上的计算选择驱动器
综上所述,选择驱动器的两个必备条件为:
★驱动器必须能提供器件所需的驱动功率
★驱动器的最大输出电流必须等于或大于 IGBT 的最大门极电流
门极驱动功率的计算
器件驱动时消耗来自驱动电路源的功率, 功率消耗受正、 负偏置驱动电压、 栅极总电荷 及工作频率的影响。要求驱动电源提供的最小峰值电流 out I 为: out I =g G R R U +?=min
G R U ?(g R 为 IGBT 的寄生电阻、 G R 为外接栅极串联电阻 ) 驱动电流的平均值 Gavg I :
Gavg I +=Gavg I -=()G E iss g s U C Q f -+
要求驱动输出的平均功率 Gavg P 为:
Gavg P =) () (G E iss s G E g s U Q f U Q f -++
其中:GE U +为栅极正偏电压; GE U -为栅极负偏压
22/1U C W in ?=
在每个工作周期内, in C 被正反向充电各一次,总计两次,则
2*2/12U C W in ?=
平均功率 AV P 为
f U C P IN AV 2*2/12?=
而 U C Q in G ?=
AV P =()f Q U U Uf Q G O FF G E O N G E G ) () (+=?=()Uf C U U in O FF G E O N G E ?+) () ( 不过此时等效的输入结电容 in C 与手册中给出的 iss C 不一样,大约的等效关系为 iss in C C 5=